| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 1.绪论 | 第9-17页 |
| ·研究背景及意义 | 第9-11页 |
| ·国内外基于性能退化的可靠性研究现状 | 第11-15页 |
| ·基于产品性能退化数据的可靠性分析研究中存在的问题 | 第11-12页 |
| ·性能参数退化建模方法研究 | 第12-15页 |
| ·论文的主要研究思路 | 第15-16页 |
| ·小结 | 第16-17页 |
| 2.基于性能退化数据的可靠性分析的一般方法 | 第17-29页 |
| ·基于产品性能退化的可靠性分析的相关概念 | 第17-20页 |
| ·产品退化数据的统计分析方法 | 第20-24页 |
| ·基于产品性能退化轨迹的可靠性评估方法 | 第20-21页 |
| ·基于性能退化量分布的可靠性评估方法 | 第21-23页 |
| ·基于伪失效寿命分布的退化数据统计分析 | 第23-24页 |
| ·产品性能退化的基本问题 | 第24-28页 |
| ·产品性能退化轨迹的一般模型 | 第24-25页 |
| ·产品退化模型的参数估计 | 第25-27页 |
| ·常见的寿命分布数理统计分析 | 第27-28页 |
| ·本章小结 | 第28-29页 |
| 3.大功率晶体管 BUX10 的退化试验及可靠性分析 | 第29-51页 |
| ·大功率晶体管的基本工作原理 | 第29-31页 |
| ·大功率晶体管的退化失效机理 | 第31-33页 |
| ·大功率晶体管 BUX10 的退化试验方法研究 | 第33-45页 |
| ·退化试验系统 | 第34-35页 |
| ·退化现象及退化参数的选取 | 第35-38页 |
| ·基于 BUX10 性能参数退化轨迹的可靠性评估 | 第38-40页 |
| ·BUX10 伪失效寿命分布的假设检验 | 第40-43页 |
| ·基于 BUX10 性能退化量分布的可靠性评估 | 第43-45页 |
| ·BUX10 加速退化试验方案研究 | 第45-50页 |
| ·加速退化试验概述 | 第45-49页 |
| ·加速退化试验方法的实现步骤 | 第49-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 4.基于贝叶斯方法的 BUX10 性能退化可靠性分析 | 第51-61页 |
| ·贝叶斯方法概述 | 第51-54页 |
| ·贝叶斯方法的介绍 | 第51-52页 |
| ·贝叶斯方法的基本流程 | 第52-54页 |
| ·验前信息可信度的确定 | 第54-55页 |
| ·基于贝叶斯方法的产品性能退化建模 | 第55-56页 |
| ·基于贝叶斯方法的 BUX10 可靠性评估 | 第56-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 5.总结与展望 | 第61-63页 |
| ·论文工作总结 | 第61页 |
| ·展望 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-67页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 作者简介 | 第71-72页 |
