| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-11页 |
| 第1章 绪论(X射线显微和相衬成像技术现状及研究进展) | 第11-43页 |
| ·X射线成像技术 | 第11-12页 |
| ·X射线显微成像技术 | 第12-27页 |
| ·X射线显微成像技术概述 | 第12-16页 |
| ·X射线光源 | 第16-18页 |
| ·X射线显微镜研究现状及其应用 | 第18-27页 |
| ·X射线相衬成像技术 | 第27-35页 |
| ·X射线与物质相互作用 | 第27-29页 |
| ·相衬成像方法的定性比较 | 第29-32页 |
| ·X射线光栅相衬成像研究现状及应用 | 第32-35页 |
| 参考文献 | 第35-43页 |
| 第2章 部分相干光理论 | 第43-53页 |
| ·标量衍射理论 | 第43-46页 |
| ·部分相干光理论 | 第46-51页 |
| ·基本概念,定义和术语 | 第46-48页 |
| ·部分相干衍射 | 第48-51页 |
| ·扩展准单色光理论 | 第51页 |
| ·本章小结 | 第51-52页 |
| 参考文献 | 第52-53页 |
| 第3章 X射线光栅干涉仪的可见度分析 | 第53-69页 |
| ·一维X射线光栅干涉仪概述 | 第53-56页 |
| ·一维光栅可见度分析(相干性的影响) | 第56-59页 |
| ·二维X射线光栅干涉仪概述 | 第59-61页 |
| ·二维光栅可见度分析(相干性的影响) | 第61-66页 |
| ·本章小结 | 第66页 |
| 参考文献 | 第66-69页 |
| 第4章 利用分形波带片聚焦的TXM系统 | 第69-89页 |
| ·X射线聚焦光学元件 | 第69-70页 |
| ·菲涅尔波带片 | 第70-74页 |
| ·分形波带片 | 第74-81页 |
| ·分形波带片的性能分析 | 第81-84页 |
| ·本章小结 | 第84页 |
| 参考文献 | 第84-89页 |
| 第5章 利用分形波带片成像的TXM系统 | 第89-98页 |
| ·全场式透射X射线显微镜实验参数 | 第89-90页 |
| ·全场式透射X射线显微镜光路推导 | 第90-91页 |
| ·分形波带片物镜(相干性的影响) | 第91-96页 |
| ·本章小结 | 第96页 |
| 参考文献 | 第96-98页 |
| 总结与展望 | 第98-99页 |
| 致谢 | 第99-101页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的其他研究成果 | 第101-102页 |