摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-14页 |
第1章 绪论 | 第14-23页 |
·课题背景 | 第14-15页 |
·国内外发展现状 | 第15-19页 |
·边缘检测的发展趋势 | 第19-20页 |
·课题的研究目的及意义 | 第20-21页 |
·本文的主要研究内容及论文结构 | 第21-23页 |
第2章 图像处理与边缘检测 | 第23-37页 |
·图像 | 第23-25页 |
·数字图像定义 | 第23-24页 |
·图像信息的重要性 | 第24-25页 |
·数字图像处理的主要研究内容 | 第25-26页 |
·边缘检测技术概述 | 第26-27页 |
·像素级边缘检测算子 | 第27-34页 |
·Roberts 边缘检测算子 | 第27-28页 |
·Sobel 边缘检测算子 | 第28页 |
·Prewitt 边缘检测算子 | 第28-29页 |
·零交叉检测法 | 第29页 |
·Laplacian 边缘检测算子 | 第29-30页 |
·Canny 边缘检测算子 | 第30-32页 |
·各种边缘检测算子的比较 | 第32页 |
·实验结果及分析 | 第32-34页 |
·影响边缘检测效果的关键因素 | 第34-35页 |
·检测精度 | 第35页 |
·检测速度 | 第35页 |
·本章小结 | 第35-37页 |
第3章 亚像素边缘检测方法 | 第37-56页 |
·亚像素边缘检测概述 | 第37-38页 |
·亚像素定位原理 | 第38-39页 |
·矩法 | 第39-51页 |
·基于空间矩的亚像素边缘检测方法(空间矩法) | 第39-44页 |
·基于灰度矩的亚像素边缘检测方法(灰度矩法) | 第44-47页 |
·基于 Zernike 矩的亚像素边缘检测方法(Zernike 矩法) | 第47-51页 |
·数字相关法 | 第51-52页 |
·实验结果及分析 | 第52-55页 |
·本章小结 | 第55-56页 |
第4章 基于改进的形态学梯度的样条插值亚像素边缘检测方法 | 第56-74页 |
·二值形态学 | 第56-60页 |
·腐蚀与膨胀 | 第57-59页 |
·开运算与闭运算 | 第59-60页 |
·击中/击不中变换 | 第60页 |
·灰度形态学 | 第60-62页 |
·灰度腐蚀 | 第60-61页 |
·灰度膨胀 | 第61-62页 |
·灰度开运算与灰度闭运算 | 第62页 |
·典型的数学形态学边缘检测方法 | 第62-63页 |
·改进的形态学梯度 | 第63-64页 |
·三次样条插值亚像素边缘检测方法 | 第64-67页 |
·基于改进的形态学梯度的样条插值亚像素边缘检测方法 | 第67-69页 |
·实验结果及分析 | 第69-72页 |
·本章小结 | 第72-74页 |
第5章 改进的曲线拟合亚像素边缘检测方法 | 第74-88页 |
·拟合法 | 第74-83页 |
·多项式拟合法 | 第74-76页 |
·椭圆曲线拟合法 | 第76-77页 |
·高斯曲面拟合法 | 第77-78页 |
·Sigmoid 函数拟合法 | 第78-80页 |
·二次曲线拟合法 | 第80-83页 |
·改进的曲线拟合亚像素边缘检测方法 | 第83-84页 |
·实验结果及分析 | 第84-87页 |
·本章小结 | 第87-88页 |
结论 | 第88-90页 |
参考文献 | 第90-96页 |
攻读硕士学位期间发表的论文和获得的科研成果 | 第96-98页 |
致谢 | 第98-99页 |