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LCD用COF挠性印制板制作工艺研究及PCB失效分析

摘要第1-6页
ABSTRACT第6-12页
第一章 绪论第12-21页
   ·挠性印制电路板介绍第12-13页
     ·印制电路板第12页
     ·挠性印制电路板第12-13页
   ·CHIP ON FLEX(COF)技术第13-15页
     ·COF 技术第13-14页
     ·COF 结构与安装方式第14页
     ·COF 的特点第14-15页
     ·COF 的应用第15页
     ·COF 用挠性印制电路板第15页
   ·COF 用挠性印制电路板制备技术第15-19页
     ·COF 用挠性印制电路板制备方法第15-16页
     ·COF 用挠性印制电路板制备用基材第16-18页
     ·COF 用挠性印制电路板制备关键点第18-19页
   ·课题研究背景及意义第19-21页
第二章 实验工艺及其原理第21-29页
   ·单面挠性印制电路板的生产工艺流程第21页
   ·卷式生产方式与片式生产方式第21-22页
     ·片式生产方式第21-22页
     ·卷式生产方式第22页
   ·原材料选择第22-23页
     ·铜箔第22-23页
     ·FCCL 基材的选择第23页
   ·图形转移工艺第23-26页
     ·光致抗蚀剂第23-24页
     ·光致抗蚀剂涂覆工艺第24-25页
     ·曝光第25-26页
     ·显影第26页
   ·蚀刻工艺第26-29页
第三章 LCD 用COF 挠性印制板制作关键工艺研究实验第29-48页
   ·实验材料与设备第29页
   ·基材尺寸稳定性研究第29-30页
   ·光致抗蚀剂性能研究第30-33页
     ·杜邦FX930 干膜性能研究第30-33页
     ·杜邦FX915 干膜性能研究第33页
   ·片式生产方式制作精细线路的研究第33-39页
     ·测试线路第33-34页
     ·干膜显影点的测量第34-35页
     ·12μm 铜箔制作精细线路研究第35-38页
     ·10μm 铜箔制作精细线路研究第38-39页
   ·卷式生产方式制作精细线路的研究第39-44页
     ·测试线路第40页
     ·干膜显影点的测量第40页
     ·12μm 铜箔制作精细线路研究第40-42页
     ·10μm 铜箔制作精细线路研究第42-44页
   ·COF 挠性印制板小批量试制第44-45页
     ·技术资料第44页
     ·试制过程及参数第44-45页
   ·产品检测第45-48页
     ·金相微切片第46页
     ·热应力冲击实验第46-47页
     ·高低温实验第47页
     ·盐雾实验第47-48页
第四章 LCD 用COF 挠性印制板制作关键工艺实验分析与讨论第48-62页
   ·基材尺寸稳定性研究第48页
   ·光致抗蚀剂性能研究第48-52页
     ·干膜的感光性能实验分析第48-50页
     ·干膜的分辨率实验分析第50-51页
     ·干膜的附着力实验分析第51页
     ·小结第51-52页
   ·片式生产方式第52-56页
     ·干膜的显影点测试实验分析第52页
     ·12μm 铜箔制作精细线路研究第52-55页
     ·10μm 铜箔制作精细线路研究第55-56页
   ·卷式生产方式第56-59页
     ·干膜的显影点测试实验分析第56页
     ·12μm 铜箔制作精细线路研究第56-58页
     ·10μm 铜箔制作精细线路研究第58-59页
   ·COF 挠性印制板小批量实验分析第59-62页
     ·片式法生产实验结果与讨论第59-60页
     ·卷式法生产实验结果与讨论第60-61页
     ·片式法与卷式法的比较结论第61-62页
第五章 PCB 失效分析第62-81页
   ·前言第62-64页
     ·失效分析的定义第62页
     ·PCB 失效分析技术第62-63页
     ·失效分析的基本程序第63-64页
   ·PCB 失效分析案例第64-81页
     ·BGA 焊点失效分析第64-71页
     ·CAF 失效案例分析第71-76页
     ·贴片电容漏电失效分析第76-81页
第六章 结论第81-84页
   ·LCD 用COF 挠性印制板制作关键工艺研究方面第81-82页
   ·PCB 失效分析方面第82-84页
致谢第84-85页
参考文献第85-88页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第88-90页

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