X荧光分析基体效应校正研究及在水泥工业中的应用
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-19页 |
| ·问题的提出及背景 | 第9-10页 |
| ·X射线荧光分析发展概况 | 第10-16页 |
| ·X射线荧光光谱仪原理 | 第10-13页 |
| ·X射线荧光光谱仪种类及特点 | 第13-14页 |
| ·X射线荧光分析技术的进展 | 第14-16页 |
| ·水泥工业X荧光分析的技术特点 | 第16-17页 |
| ·本课题主要内容及研究成果 | 第17-19页 |
| 第二章 荧光X射线强度理论计算原理 | 第19-29页 |
| ·X射线管原级谱分布 | 第19-23页 |
| ·X射线管工作原理 | 第19-20页 |
| ·仪器基本参数 | 第20页 |
| ·原级X射线谱 | 第20-23页 |
| ·理论相对强度的计算 | 第23-27页 |
| ·质量吸收系数 | 第23-24页 |
| ·激发因子 | 第24-26页 |
| ·理论荧光强度计算公式 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 第三章 基体效应校正方法研究 | 第29-40页 |
| ·定标方法 | 第29-30页 |
| ·基本参数法分析基础 | 第30-33页 |
| ·方法简介 | 第30-31页 |
| ·简单体系基体效应校正效果 | 第31-33页 |
| ·理论影响系数法分析基础 | 第33-37页 |
| ·方法简介 | 第33-34页 |
| ·公式推导 | 第34-36页 |
| ·简单体系基体效应校正效果 | 第36-37页 |
| ·变动理论影响系数法 | 第37-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 第四章 实验结果及分析 | 第40-57页 |
| ·实验条件及测试数据简介 | 第40-41页 |
| ·仪器分析条件 | 第40页 |
| ·测试用标准样品浓度及强度数据 | 第40-41页 |
| ·基本参数法计算结果分析 | 第41-49页 |
| ·多标样基本参数法分析 | 第41-46页 |
| ·双标样基本参数法分析 | 第46-47页 |
| ·单标样基本参数法分析 | 第47-49页 |
| ·理论影响系数法计算结果分析 | 第49-53页 |
| ·单标相对强度计算 | 第49-50页 |
| ·多标理论影响系数法分析 | 第50-51页 |
| ·双标理论影响系数法分析 | 第51-52页 |
| ·单标理论影响系数法分析 | 第52-53页 |
| ·变动理论影响系数计算 | 第53页 |
| ·软件优化 | 第53-56页 |
| ·计算速度优化 | 第53-54页 |
| ·计数率效应在线修正 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 总结 | 第57-59页 |
| 主要成果 | 第57页 |
| 问题与展望 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-73页 |
| 在读期间发表论文情况 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |
