| 缩略语说明 | 第1-16页 |
| 摘要 | 第16-18页 |
| ABSTRACT | 第18-20页 |
| 第一章 绪论 | 第20-40页 |
| ·研究背景 | 第20-29页 |
| ·嵌入式系统的调试技术 | 第20-24页 |
| ·嵌入式系统的容错技术 | 第24-26页 |
| ·项目背景:高性能嵌入式多核DSP处理器 | 第26-29页 |
| ·相关研究工作 | 第29-34页 |
| ·片上trace技术 | 第29-33页 |
| ·控制流错误检测技术 | 第33-34页 |
| ·本文的研究内容 | 第34-37页 |
| ·本文的主要贡献 | 第37-38页 |
| ·论文的组织结构 | 第38-40页 |
| 第二章 调试模型与片上trace | 第40-56页 |
| ·基于存储元件状态集合的调试模型 | 第40-46页 |
| ·处理器系统模型 | 第40-43页 |
| ·调试模型 | 第43-46页 |
| ·非入侵可观测性分析 | 第46-48页 |
| ·片上trace调试技术 | 第48-53页 |
| ·嵌入式软件的调试阶段 | 第48-49页 |
| ·片上trace调试的内在优势 | 第49-51页 |
| ·片上trace实现模型 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-56页 |
| 第三章 多核片上trace调试框架:TraceDo | 第56-76页 |
| ·TraceDo框架 | 第56-59页 |
| ·Trace信息的采集、压缩与配置 | 第59-68页 |
| ·路径trace | 第59-65页 |
| ·数据trace | 第65-66页 |
| ·事件trace | 第66-67页 |
| ·功能配置方式 | 第67-68页 |
| ·相关研究及比较 | 第68-71页 |
| ·实验评估 | 第71-75页 |
| ·实验环境 | 第71-72页 |
| ·路径trace实验结果及分析比较 | 第72-74页 |
| ·事件trace实验结果 | 第74-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第四章 Trace片上传输结构 | 第76-106页 |
| ·Trace流传输问题分析 | 第76-81页 |
| ·核内trace流的两级缓冲传输结构 | 第81-90页 |
| ·核内trace流传输的实现结构 | 第81-83页 |
| ·K-N缓冲结构模型与面积建模 | 第83-84页 |
| ·面积-溢出折中的结构参数选择 | 第84-90页 |
| ·核间trace流的合成调度算法 | 第90-104页 |
| ·Trace流合成的分析与相关研究 | 第90-92页 |
| ·Trace流合成调度算法 | 第92-97页 |
| ·性能评估与比较 | 第97-104页 |
| ·本章小结 | 第104-106页 |
| 第五章 Trace辅助的程序分析、调试与调优 | 第106-134页 |
| ·片上trace应用概述 | 第106-110页 |
| ·多核程序的分析与调优 | 第110-119页 |
| ·基于Qlink传输的2D-FFT并行算法 | 第110-113页 |
| ·TraceDo辅助的程序分析与调优 | 第113-119页 |
| ·路径trace支持的预取排布 | 第119-131页 |
| ·相关研究 | 第119-120页 |
| ·程序周期行为 | 第120-121页 |
| ·周期预取 | 第121-125页 |
| ·面向周期预期的代码排布 | 第125-129页 |
| ·性能评估与比较 | 第129-131页 |
| ·本章小结 | 第131-134页 |
| 第六章 程序控制流错误的检测方法:V-CFC | 第134-162页 |
| ·程序控制流错误及检测 | 第134-138页 |
| ·概述 | 第134-135页 |
| ·控制流错误类型分析 | 第135-137页 |
| ·相关研究 | 第137-138页 |
| ·V-CFC方法 | 第138-152页 |
| ·概述 | 第138-139页 |
| ·层次化特征值 | 第139-141页 |
| ·特征值指令 | 第141-144页 |
| ·特征值检查 | 第144-148页 |
| ·特征值指令优化 | 第148-149页 |
| ·增加覆盖率的措施 | 第149-152页 |
| ·软硬件实现 | 第152-153页 |
| ·性能评估 | 第153-161页 |
| ·方法与环境 | 第153-155页 |
| ·特征值混淆 | 第155-156页 |
| ·存储耗费与性能代价 | 第156-157页 |
| ·故障覆盖率 | 第157-159页 |
| ·故障检测延迟 | 第159-160页 |
| ·综合性能比较 | 第160-161页 |
| ·本章小结 | 第161-162页 |
| 第七章 多核处理器YHFT-QDSP的调试系统 | 第162-177页 |
| ·YHFT-QDSP的开发平台 | 第162-164页 |
| ·多核调试的软硬件实现 | 第164-166页 |
| ·同步调试的片上硬件支持 | 第164-165页 |
| ·多核调试环境 | 第165-166页 |
| ·TraceDo系统的软硬实现 | 第166-174页 |
| ·片上硬件的设计与VLSI实现 | 第166-169页 |
| ·可视化分析工具 | 第169-171页 |
| ·整体性能评测 | 第171-174页 |
| ·高兼容性仿真器YHFT Emulator-Ⅱ | 第174-176页 |
| ·本章小结 | 第176-177页 |
| 第八章 结束语 | 第177-181页 |
| ·工作总结 | 第177-179页 |
| ·工作展望 | 第179-181页 |
| 致谢 | 第181-183页 |
| 参考文献 | 第183-195页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第195-197页 |