数字电路测试生成平台研究与可测性设计的应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-18页 |
| ·数字电路测试的研究目的和意义 | 第12页 |
| ·数字电路测试的研究现状 | 第12-15页 |
| ·自动测试向量生成技术的发展 | 第13页 |
| ·可测性设计技术的发展 | 第13-15页 |
| ·课题的研究内容和意义 | 第15-16页 |
| ·论文结构 | 第16-18页 |
| 第二章 数字电路测试的基本理论 | 第18-32页 |
| ·故障与故障模型 | 第18-21页 |
| ·单固定型故障 | 第18-19页 |
| ·多固定型故障 | 第19页 |
| ·桥接故障 | 第19-20页 |
| ·故障等价与压缩 | 第20页 |
| ·存储器故障模型 | 第20-21页 |
| ·故障模拟 | 第21-24页 |
| ·串行故障模拟 | 第23页 |
| ·并行故障模拟 | 第23-24页 |
| ·演绎故障模拟 | 第24页 |
| ·自动测试向量生成方法与理论 | 第24-31页 |
| ·自动测试向量生成方法分类 | 第24-28页 |
| ·组合电路的测试向量生成 | 第28-30页 |
| ·时序电路的自动测试向量生成 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第三章 数字电路测试生成平台的设计与开发 | 第32-50页 |
| ·数字测试生成平台设计框架 | 第32-34页 |
| ·可测性度量的实现 | 第34-37页 |
| ·可测性的度量标准 | 第34-36页 |
| ·SCOAP 算法实现 | 第36-37页 |
| ·PODEM 算法流程 | 第37-39页 |
| ·基准电路和电路格式 | 第39-42页 |
| ·基准电路 | 第39-40页 |
| ·电路格式描述 | 第40-42页 |
| ·设计中相关文件的描述 | 第42-43页 |
| ·设计中的相关数据结构 | 第43-44页 |
| ·测试向量生成流程 | 第44-46页 |
| ·故障的注入和移除 | 第44-46页 |
| ·测试向量生成 | 第46页 |
| ·故障仿真流程 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-50页 |
| 第四章 伪随机测试向量生成和应用 | 第50-56页 |
| ·随即序列和伪随机序列 | 第50-51页 |
| ·线性反馈移位寄存器LFSR | 第51-53页 |
| ·本原多项式和m 序列 | 第51页 |
| ·LFSR 的基本组成 | 第51-52页 |
| ·LFSR 的特征多项式 | 第52-53页 |
| ·伪随机测试向量生成 | 第53-54页 |
| ·测试向量故障仿真结果分析 | 第54-56页 |
| 第五章 边界扫描技术的典型应用 | 第56-72页 |
| ·可测性设计概念 | 第56-57页 |
| ·扫描设计 | 第57-59页 |
| ·扫描通路法 | 第57-58页 |
| ·随机存取扫描法 | 第58-59页 |
| ·电平敏感扫描设计法 | 第59页 |
| ·内建自测试 | 第59-61页 |
| ·内建自测试结构框架 | 第59-60页 |
| ·BIST 测试向量生成 | 第60-61页 |
| ·BIST 响应压缩 | 第61页 |
| ·IP 核的可测性设计 | 第61-62页 |
| ·IP 核的发展概述 | 第61页 |
| ·IEEE P1500 标准 | 第61-62页 |
| ·边界扫描设计 | 第62-65页 |
| ·边界扫描标准IEEE 1149.1 | 第62-64页 |
| ·边界扫描测试指令 | 第64页 |
| ·边界扫描描述语言BSDL | 第64-65页 |
| ·边界扫描技术的应用 | 第65-72页 |
| ·嵌入式微控制器SMCU 的结构 | 第65-66页 |
| ·TAP 控制器的设计 | 第66-68页 |
| ·边界扫描寄存器设计 | 第68-69页 |
| ·带边界扫描的SMCU 设计 | 第69-72页 |
| 第六章 存储器测试算法研究与可测性设计 | 第72-82页 |
| ·存储器测试的意义 | 第72-73页 |
| ·存储器的功能模型 | 第73-74页 |
| ·存储器测试算法介绍 | 第74-76页 |
| ·算法分类 | 第74-75页 |
| ·March 算法的发展 | 第75-76页 |
| ·存储器的内建自测试设计 | 第76-82页 |
| ·纠错模块设计 | 第76-77页 |
| ·存储器的BIST 设计结构 | 第77-79页 |
| ·模块设计仿真结果 | 第79-82页 |
| 结论 | 第82-83页 |
| 参考文献 | 第83-86页 |
| 致谢 | 第86-87页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第87页 |
