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基于龙芯2C低成本开发板的设计与实现

第一章 绪论第1-20页
   ·论文研究背景第14页
   ·龙芯2C处理器简介第14-18页
     ·基本特点第14-15页
     ·接口信号描述第15-18页
   ·论文研究意义第18页
   ·论文所做工作第18-19页
   ·论文组织结构第19-20页
第二章 低成本架构及原理图设计第20-48页
   ·开发板低成本架构设计第20-26页
     ·低成本架构设计第20-21页
     ·FPGA内部功能实现第21-25页
     ·接口功能支持第25-26页
   ·开发板原理图设计第26-46页
     ·CPU-FPGA-IT8172-Cache第26-28页
     ·电源模块第28-30页
     ·时钟模块第30-31页
     ·内存SDRAM第31-33页
     ·PCI总线接口第33-35页
     ·IDE硬盘第35-36页
     ·AC97声卡第36-38页
     ·并口第38-40页
     ·Boot ROM和Flash第40-41页
     ·USB、红外接口和智能卡接口第41-42页
     ·南桥IT8712第42-45页
     ·RS232和RS485串口第45-46页
   ·小结第46-48页
第三章 开发板PCB设计第48-66页
   ·概述第48-52页
   ·开发板PCB板面尺寸的选择第52页
   ·开发板PCB层数选择第52-53页
   ·开发板PCB信号线的特征阻抗第53-54页
     ·开发板PCB信号线特征阻抗要求第53-54页
     ·开发板PCB差分信号线的特征阻抗要求第54页
   ·开发板PCB布局第54-58页
     ·开发板PCB布局第55-57页
     ·开发板PCB布局检查第57页
     ·开发板PCB整体布局图第57-58页
   ·开发板PCB布线第58-64页
     ·开发板PCB布线第59-63页
     ·开发板PCB布线检查第63-64页
     ·开发板PCB整体布线图第64页
   ·小结第64-66页
第四章 系统调试第66-74页
   ·主板电路故障检测方法第66-68页
     ·数字电路中常见的故障类型第66-67页
     ·主板电路故障诊断检测方法第67-68页
   ·硬件调试第68-70页
     ·电源平面第68-69页
     ·FPGA转接卡第69页
     ·NOR Flash第69-70页
   ·软件调试第70-71页
     ·NOR Flash测试程序代码第70-71页
     ·DOC Flash测试程序代码第71页
   ·小结第71-74页
第五章 开发板性能测试第74-78页
   ·性能测试第74页
   ·测试结果第74-77页
     ·访存速度测试第74页
     ·Cache性能测试第74-75页
     ·硬盘访问速度测试第75-76页
     ·显示性能测试第76页
     ·网络性能和USB访问速度测试第76-77页
   ·小结第77-78页
第六章 结论第78-80页
参考文献第80-82页
附录第82-84页
致谢第84-86页
研究成果及发表的学术论文第86-88页
作者和导师简介第88页

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