| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 目录 | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 第二章 光电耦合器件的噪声理论基础 | 第11-29页 |
| ·光电耦合器件的类型 | 第11-13页 |
| ·噪声的理论基础 | 第13-20页 |
| ·噪声的数学基础 | 第13-17页 |
| ·噪声的分类 | 第17-20页 |
| ·光电耦合器件的噪声 | 第20-29页 |
| ·光电耦合器件的I-V特性 | 第20-21页 |
| ·光电耦合器件的白噪声 | 第21页 |
| ·光电耦合器件的1/f噪声 | 第21-23页 |
| ·光电耦合器件的g-r噪声 | 第23-29页 |
| 第三章 加严筛选物理判据与筛选方法 | 第29-45页 |
| ·原有筛选判据与方法 | 第29-30页 |
| ·爆裂噪声与光耦器件可靠性及质量的关系 | 第30-31页 |
| ·爆裂噪声作为光电耦合器筛选的物理判据 | 第31-41页 |
| ·基于噪声物理判据筛选的优点 | 第31-32页 |
| ·明显爆裂噪声谱的拟合 | 第32-33页 |
| ·双谱作为基于爆裂噪声的光电耦合器筛选补充物理判据 | 第33-41页 |
| ·不明显爆裂噪声可以用双谱表征 | 第41页 |
| ·不含爆裂噪声的情况 | 第41-42页 |
| ·改进的筛选判据 | 第42-45页 |
| 第四章 验证与应用 | 第45-55页 |
| ·光电耦合器件的测试 | 第45-46页 |
| ·筛选判据验证 | 第46-51页 |
| ·验证方案 | 第46页 |
| ·验证过程 | 第46-50页 |
| ·结果及结论 | 第50-51页 |
| ·筛选判据应用 | 第51-55页 |
| ·原判据 | 第51-52页 |
| ·新判据 | 第52-55页 |
| 第五章 结论与展望 | 第55-57页 |
| ·论文成果 | 第55页 |
| ·展望 | 第55-57页 |
| 致谢 | 第57-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 在研期间主要研究成果 | 第63页 |