| 中文摘要 | 第1-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-18页 |
| 第一节 安全性能试验的目的 | 第6页 |
| 第二节 安全性能试验的种类、测试方法与技术要求 | 第6-16页 |
| 1．2．1 绝缘电阻的测试方法与技术要求 | 第7-9页 |
| 1．2．2 工频耐压的测试方法与技术要求 | 第9-12页 |
| 1．2．3 匝间耐压的测试方法与技术要求 | 第12-16页 |
| 第三节 安全性能测试设备的现状 | 第16-17页 |
| 第四节 本论文所做的工作 | 第17-18页 |
| 第二章 绝缘电阻的测试 | 第18-28页 |
| 第一节 绝缘电阻的构成 | 第18-20页 |
| 第二节 绝缘电阻的测试方法 | 第20页 |
| 第三节 绝缘电阻测试仪硬件电路 | 第20-24页 |
| 2．3．1 总体硬件结构 | 第20-21页 |
| 2．3．2 正弦波振荡发生器 | 第21-22页 |
| 2．3．3 升压变压器及其设计 | 第22-23页 |
| 2．3．4 倍压整流电路 | 第23-24页 |
| 第四节 绝缘电阻测试仪误差分析及数据拟合技术 | 第24-28页 |
| 第三章 工频耐压测试 | 第28-36页 |
| 第一节 影响工频耐压的主要因素 | 第28-30页 |
| 第二节 工频耐压测试硬件电路 | 第30-32页 |
| 3．2．1 硬件电路及工作原理 | 第30-31页 |
| 3．2．2 过流保护电路 | 第31-32页 |
| 第三节 工频耐压测试仪的容量指标 | 第32-36页 |
| 第四章 匝间耐压测试 | 第36-58页 |
| 第一节 匝间耐压振荡波形的产生机制 | 第36-39页 |
| 4．1．1 冲击振荡电路工作原理 | 第36-38页 |
| 4．1．2 匝间振荡波形分析 | 第38-39页 |
| 第二节 匝间耐压振荡波的数值测量与评估 | 第39-43页 |
| 4．2．1 电路参数对波形的影响 | 第40-41页 |
| 4．2．2 正确选择各检测参数 | 第41-43页 |
| 第三节 匝间耐压测试硬件系统构成 | 第43-49页 |
| 4．3．1 硬件电路 | 第43-45页 |
| 4．3．2 硬件参数的确定 | 第45-46页 |
| 4．3．3 可控硅的串联使用 | 第46-49页 |
| 第四节 匝间测试系统触发脉冲产生电路 | 第49-58页 |
| 4．4．1 触发电路结构图与工作原理 | 第49-50页 |
| 4．4．2 单结晶体管驰张振荡电路 | 第50-51页 |
| 4．4．3 可控硅触发端电路 | 第51-53页 |
| 4．4．4 脉冲变压器及其设计 | 第53-57页 |
| 4．4．5 脉冲控制模块 | 第57-58页 |
| 第五章 电机自动测试系统 | 第58-85页 |
| 第一节 虚拟仪器技术 | 第58-66页 |
| 5．1．1 虚拟仪器的发展趋势 | 第58-59页 |
| 5．1．2 虚拟仪器的定义 | 第59-60页 |
| 5．1．3 虚拟仪器的构成 | 第60-66页 |
| 第二节 基于虚拟仪器技术的电机测试平台 | 第66-72页 |
| 5．2．1 PC—DAQ系统的组成结构 | 第66-67页 |
| 5．2．2 基于PC—DAQ结构的电机测试平台的硬件设计 | 第67-69页 |
| 5．2．3 基于PC—DAQ结构的电机测试平台的硬件设计 | 第69-72页 |
| 第三节 微机控制直线电机测试系统 | 第72-85页 |
| 5．3．1 测试功能模块 | 第72-73页 |
| 5．3．2 输入／输出接口电路模块 | 第73-74页 |
| 5．3．3 数据采集卡（DAQ） | 第74-75页 |
| 5．3．4 数据库管理系统 | 第75页 |
| 5．3．5 编程工具 | 第75-77页 |
| 5．3．6 系统软件 | 第77-84页 |
| 5．3．7 结论 | 第84-85页 |
| 第六章 系统的抗干扰技术 | 第85-94页 |
| 第一节 干扰的来源及传播途径 | 第85-88页 |
| 6．1．1 系统干扰的主要来源 | 第85-86页 |
| 6．1．2 干扰的传播途径 | 第86-88页 |
| 第二节 硬件抗干扰措施 | 第88-91页 |
| 第三节 软件抗干扰措施 | 第91-94页 |
| 参考文献 | 第94-97页 |
| 致谢 | 第97页 |