基于边界扫描技术的测试系统的研究与应用
| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题背景和研究意义 | 第11-12页 |
| ·边界扫描技术国内外研究现状 | 第12-15页 |
| ·边界扫描技术的发展和应用 | 第12-13页 |
| ·边界扫描板级测试系统的研究现状 | 第13-15页 |
| ·课题任务和章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 边界扫描技术基本理论和方法 | 第17-27页 |
| ·边界扫描技术的基本原理 | 第17-20页 |
| ·边界扫描测试的基本结构 | 第17-18页 |
| ·测试存取通道及控制器 | 第18页 |
| ·寄存器及指令 | 第18-20页 |
| ·基于边界扫描技术的板级测试理论和方法 | 第20-26页 |
| ·边界扫描测试类型和测试方法 | 第20-23页 |
| ·边界扫描测试的基本概念 | 第23-24页 |
| ·常见的互连测试生成算法 | 第24-26页 |
| ·本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 边界扫描测试系统总体方案 | 第27-34页 |
| ·边界扫描测试系统的需求与结构 | 第27-30页 |
| ·边界扫描测试系统设计需求 | 第27-28页 |
| ·边界扫描测试系统的总体结构 | 第28-29页 |
| ·测试系统的工作流程 | 第29-30页 |
| ·边界扫描测试卡方案 | 第30-32页 |
| ·边界扫描控制器的实现方案 | 第30页 |
| ·主机通信接口的设计方案 | 第30-31页 |
| ·EZ-USB FX2 芯片的特点 | 第31-32页 |
| ·边界扫描测试软件总体设计 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 边界扫描测试卡的设计 | 第34-64页 |
| ·测试卡实施方案 | 第34-35页 |
| ·边界扫描测试卡硬件电路设计 | 第35-38页 |
| ·FX2 芯片与FPGA 的物理连接 | 第36-37页 |
| ·供电电路 | 第37页 |
| ·FPGA 配置电路 | 第37页 |
| ·电平转换电路 | 第37-38页 |
| ·边界扫描控制器的FPGA 实现 | 第38-50页 |
| ·边界扫描控制器设计方案 | 第38-40页 |
| ·主机接口模块设计 | 第40-42页 |
| ·TCK 模块设计 | 第42-43页 |
| ·TDO 模块设计 | 第43-46页 |
| ·TDI 模块设计 | 第46页 |
| ·TMS 模块设计 | 第46-49页 |
| ·多路复用模块设计 | 第49-50页 |
| ·USB 固件程序设计 | 第50-63页 |
| ·工作方式的选择 | 第50-52页 |
| ·固件程序框架 | 第52-53页 |
| ·固件程序的设计 | 第53-62页 |
| ·固件程序的加载 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 第五章 边界扫描测试软件设计与实现 | 第64-80页 |
| ·软件总体结构和界面设计 | 第64-67页 |
| ·软件总体结构关系与工作流程 | 第64-66页 |
| ·软件主界面 | 第66-67页 |
| ·USB 数据通信模块 | 第67-71页 |
| ·USB2.0 驱动程序设计 | 第67-69页 |
| ·测试卡设备类的开发 | 第69-71页 |
| ·测试向量生成模块 | 第71-77页 |
| ·网络表文件分析 | 第72页 |
| ·BSDL 文件分析 | 第72-75页 |
| ·测试数据生成 | 第75-77页 |
| ·测试向量施加模块 | 第77-78页 |
| ·故障诊断模块 | 第78-79页 |
| ·本章小结 | 第79-80页 |
| 第六章 边界扫描测试系统的应用 | 第80-88页 |
| ·被测电路板的可测性改造 | 第80-84页 |
| ·被测电路板简介 | 第80-81页 |
| ·被测板的可测性改造 | 第81-84页 |
| ·边界扫描测试过程 | 第84-87页 |
| ·测试准备 | 第84-85页 |
| ·完备性测试 | 第85-86页 |
| ·互连测试 | 第86页 |
| ·簇测试 | 第86-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 结束语 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-92页 |
| 致谢 | 第92-93页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第93页 |
