摘要 | 第1-13页 |
ABSTRACT | 第13-16页 |
第一章 绪论 | 第16-25页 |
前言 | 第16页 |
·物体表面三维形貌测量技术 | 第16-17页 |
·光学三维形貌测量技术 | 第17-18页 |
·投影栅线相位法三维形貌测量技术 | 第18-22页 |
·投影栅线傅立叶变换相位法 | 第19-20页 |
·投影栅线相移法 | 第20-21页 |
·两种测量方法比较 | 第21-22页 |
·投影栅线法三维形貌测量目前研究热点 | 第22-23页 |
·相位去包裹 | 第22页 |
·系统标定 | 第22-23页 |
·细微观领域的应用 | 第23页 |
·本论文的主要研究内容及成果 | 第23-24页 |
本章小结 | 第24-25页 |
第二章 投影栅线相移法测量原理 | 第25-44页 |
前言 | 第25页 |
·投影栅线相移法系统构成 | 第25-30页 |
·投影移相装置 | 第25-29页 |
·成像采集装置 | 第29-30页 |
·控制与数据处理系统 | 第30页 |
·投影栅线相移法光路原理 | 第30-36页 |
·斜式投影垂直拍摄光路 | 第31-32页 |
·垂直投影斜式拍摄光路 | 第32-33页 |
·两种拍摄光路的比较 | 第33页 |
·针对测量盲区的光路改进 | 第33-36页 |
·恢复三维坐标原理 | 第36-38页 |
·相移和去包裹 | 第38-43页 |
·为什么要进行相移 | 第38-39页 |
·等步长相移算法 | 第39-40页 |
·相位去包裹 | 第40-43页 |
本章小结 | 第43-44页 |
第三章 相位去包裹错误分析及解决办法 | 第44-56页 |
前言 | 第44页 |
·通过去包裹过程分析“拉线”出现的原因 | 第44-47页 |
·“拉线”出现的光路原因分析 | 第47-49页 |
·降低光栅频率避免去包裹错误 | 第49页 |
·多频光栅投影去包裹 | 第49-55页 |
·双频光栅投影去包裹 | 第49-50页 |
·多频光栅投影去包裹 | 第50-51页 |
·一种新的基于双频光栅投影的去包裹算法 | 第51-52页 |
·应用新的基于双频光栅投影去包裹技术的实验结果 | 第52-55页 |
本章小结 | 第55-56页 |
第四章 投影栅线相移法系统标定与还原真实三维坐标 | 第56-82页 |
前言 | 第56页 |
·相位差的求取 | 第56-59页 |
·相位起始点的确定方法 | 第56-59页 |
·传统的系统标定方法 | 第59-66页 |
·传统标定方法的标定原理 | 第60-61页 |
·摄像机的透视变换模型 | 第61-65页 |
·传统标定方法的缺点 | 第65-66页 |
·一种新的宽松光路条件下的标定方法 | 第66-70页 |
·第一种宽松条件光路情况分析 | 第66-68页 |
·第二种宽松条件光路情况分析 | 第68-69页 |
·两种光路情况综合 | 第69-70页 |
·具体的标定过程 | 第70-78页 |
·超定线性方程组的最小二乘解 | 第70-72页 |
·摄像机的标定 | 第72-75页 |
·系统参数C_1,C_2,C_3,C_4的标定 | 第75-76页 |
·标定结果验证 | 第76-77页 |
·影响标定结果的因素分析 | 第77-78页 |
·求解空间坐标系下的真实坐标 | 第78-81页 |
本章小结 | 第81-82页 |
第五章 所测点云数据横纵分辨率的统一与双摄像机测量数据融合 | 第82-93页 |
前言 | 第82页 |
·所测数据横纵向分辨率分析 | 第82-85页 |
·所测物体与摄像机间相对位置对横纵向分辨率的影响 | 第82-84页 |
·所测物体表面朝向对横纵向分辨率的影响 | 第84-85页 |
·摄像机所测数据横纵向分辨率调整 | 第85-88页 |
·将数据点映射到横纵向间距统一的数据点矩阵中 | 第85-86页 |
·数据点插值运算 | 第86-87页 |
·空洞数据在数据插值中的处理 | 第87-88页 |
·双摄像机所测数据的数据融合 | 第88-92页 |
·双摄像机拍摄重合区域数据融合处理方法 | 第89-92页 |
本章小结 | 第92-93页 |
第六章 总结 | 第93-95页 |
总结 | 第93-94页 |
前景展望 | 第94-95页 |
参考文献 | 第95-104页 |
致谢 | 第104-105页 |
学位论文评阅及答辩情况表 | 第105页 |