典型材料晶体学特性的电子背散射技术的研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-23页 |
| ·电子背散射衍射分析技术简介 | 第7-8页 |
| ·电子背散射衍射分析技术理论基础 | 第8-16页 |
| ·电子背散射花样的产生原理 | 第8-11页 |
| ·电子背散射花样的获得 | 第11-13页 |
| ·EBSP的测量和分析 | 第13-14页 |
| ·晶体取向和织构及其表示法 | 第14-16页 |
| ·欧拉角 | 第14-15页 |
| ·极图和反极图 | 第15-16页 |
| ·取向分布函数（ODF） | 第16页 |
| ·EBSD的系统组成 | 第16-17页 |
| ·EBSD的分辨率 | 第17-19页 |
| ·材料的影响 | 第18页 |
| ·样品在样品室中的几何位置的影响 | 第18-19页 |
| ·加速电压、束流的影响 | 第19页 |
| ·EBSD的角分辨率的影响 | 第19页 |
| ·EBSD的应用 | 第19-21页 |
| ·织构 | 第19-20页 |
| ·晶粒尺寸及形状的分析 | 第20页 |
| ·取向测量及取向关系分析 | 第20页 |
| ·相鉴定及相比计算 | 第20页 |
| ·应变测量 | 第20-21页 |
| ·EBSD技术与其他相关技术的比较 | 第21-22页 |
| ·课题研究背景及意义 | 第22-23页 |
| 第二章 实验材料及研究方法 | 第23-30页 |
| ·实验设备 | 第23页 |
| ·实验条件 | 第23-26页 |
| ·加速电压（HV） | 第23-24页 |
| ·工作距离（WD） | 第24-25页 |
| ·探测距离（DD） | 第25页 |
| ·方位角（Φ）的影响 | 第25页 |
| ·倾斜角误差的影响 | 第25-26页 |
| ·束斑直径的影响 | 第26页 |
| ·样品的制备 | 第26-28页 |
| ·金属样品的制备 | 第26-28页 |
| ·陶瓷样品的制备 | 第28页 |
| ·EBSD数据所包含的基本信息 | 第28-29页 |
| ·主要实验分析方法 | 第29-30页 |
| ·金相组织观察 | 第29页 |
| ·扫描电镜组织观察 | 第29页 |
| ·XRD测试 | 第29页 |
| ·背散射电子衍射（EBSD）测试分析 | 第29-30页 |
| 第三章 实验结果与讨论 | 第30-52页 |
| ·单晶Si样品的EBSD分析 | 第30页 |
| ·铁的EBSD分析 | 第30-34页 |
| ·样品制备 | 第30-31页 |
| ·实验结果与讨论 | 第31-34页 |
| ·相鉴定 | 第31-32页 |
| ·晶界特性 | 第32-33页 |
| ·晶粒尺寸 | 第33-34页 |
| ·Al板材的EBSD分析 | 第34-36页 |
| ·样品制备 | 第34页 |
| ·实验结果与讨论 | 第34-36页 |
| ·相鉴定 | 第34-35页 |
| ·晶界特性 | 第35-36页 |
| ·Cu合金的EBSD分析 | 第36-42页 |
| ·样品制备 | 第36-37页 |
| ·实验结果与讨论 | 第37-42页 |
| ·相鉴定 | 第37-38页 |
| ·晶界特性 | 第38-40页 |
| ·织构分析 | 第40-41页 |
| ·晶粒尺寸 | 第41-42页 |
| ·双向铁基合金的EBSD分析 | 第42-47页 |
| ·样品制备 | 第42页 |
| ·实验结果与讨论 | 第42-47页 |
| ·相鉴定 | 第42-43页 |
| ·2 晶界特性 | 第43-44页 |
| ·织构分析 | 第44-47页 |
| ·晶粒尺寸 | 第47页 |
| ·陶瓷试样的EBSD分析 | 第47-52页 |
| ·试样制备 | 第47页 |
| ·实验结果与讨论 | 第47-52页 |
| ·取向鉴定 | 第48-49页 |
| ·晶界特性 | 第49-50页 |
| ·织构分析 | 第50-52页 |
| 第四章 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-57页 |
| 发表论文和参加科研情况说明 | 第57-58页 |
| 附录：EBSD CHANNEL 4 系统操作指南 | 第58-59页 |
| 致谢 | 第59页 |
