| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-33页 |
| ·磁记录的发展 | 第10-14页 |
| ·磁记录知识简介 | 第14-20页 |
| ·磁记录的写读过程 | 第14-16页 |
| ·磁记录磁头 | 第16-18页 |
| ·磁记录介质 | 第18-19页 |
| ·超高磁记录密度的要求 | 第19-20页 |
| ·垂直磁记录介质 | 第20-26页 |
| ·软磁衬底层(SUL) | 第20-22页 |
| ·中间层(Intermediate layer) | 第22页 |
| ·记录层(Recording layer) | 第22-24页 |
| ·垂直磁记录介质研究的新进展 | 第24-26页 |
| ·垂直磁记录的未来 | 第26-29页 |
| 参考文献 | 第29-33页 |
| 第二章 ECC介质的原理及研究背景 | 第33-41页 |
| ·ECC介质的提出 | 第33-34页 |
| ·ECC介质的微磁学模拟 | 第34-35页 |
| ·ECC介质的相图 | 第35-37页 |
| ·ECC介质的研究进展 | 第37-38页 |
| ·ECC介质遇到的问题 | 第38-40页 |
| 参考文献 | 第40-41页 |
| 第三章 样品的制备与测试 | 第41-57页 |
| ·样品的制备 | 第41-45页 |
| ·磁控溅射系统 | 第41-44页 |
| ·样品制备过程 | 第44-45页 |
| ·样品测试系统 | 第45-56页 |
| ·透射电镜 | 第45-46页 |
| ·X射线衍射仪(XRD) | 第46-47页 |
| ·磁光克尔测量系统(MOKE) | 第47-49页 |
| ·振动样品磁强计(VSM) | 第49-50页 |
| ·交变梯度磁强计(AGM) | 第50-52页 |
| ·磁力显微镜(MFM) | 第52-54页 |
| ·台阶仪 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-57页 |
| 第四章 ECC介质的理论计算 | 第57-72页 |
| ·双磁矩模型 | 第57-58页 |
| ·计算方法 | 第58-60页 |
| ·计算结果及分析 | 第60-70页 |
| ·复合颗粒的热稳定性 | 第60-61页 |
| ·软磁层的各向异性能的影响 | 第61-66页 |
| ·软磁层的饱和磁化强度的影响 | 第66-70页 |
| 小结 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-72页 |
| 第五章 ECC介质的实验研究 | 第72-102页 |
| ·制备条件 | 第72-73页 |
| ·薄膜的晶体结构 | 第73-75页 |
| ·记录层的饱和磁化强度 | 第75页 |
| ·软磁层对强耦合的ECC薄膜性质的影响 | 第75-82页 |
| ·软磁层对磁滞回线的影响 | 第75-76页 |
| ·软磁层对矫顽力的影响 | 第76-78页 |
| ·软磁层对热稳定性的影响 | 第78-79页 |
| ·软磁层对α的影响 | 第79-80页 |
| ·软磁层对磁畴结构的影响 | 第80-82页 |
| ·Pt中间层对ECC薄膜性质的影响 | 第82-95页 |
| ·Co-TiO_2/Pt/CoPt-TiO_2薄膜的结构 | 第82-85页 |
| ·中间层对磁滞回线的影响 | 第85-87页 |
| ·中间层对矩形比的影响 | 第87-88页 |
| ·中间层对矫顽力的影响 | 第88-91页 |
| ·中间层对热稳定性的影响 | 第91-92页 |
| ·中间层对α的影响 | 第92-93页 |
| ·中间层对磁畴结构的影响 | 第93-95页 |
| ·外场方向对矫顽力的影响 | 第95-96页 |
| ·剩磁态MFM图像 | 第96-99页 |
| 小结 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-102页 |
| 第六章 结论 | 第102-105页 |
| 博士期间发表的主要论文 | 第105-106页 |
| 致谢 | 第106页 |