红外阵列检测平台的开发与研究
摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
1 绪论 | 第9-13页 |
·无损检测概述 | 第9页 |
·红外热波无损检测技术研究现状 | 第9-11页 |
·本文研究的目的、意义及内容 | 第11-13页 |
2 红外热波无损检测技术简介 | 第13-20页 |
·红外辐射基本理论 | 第13-17页 |
·黑体辐射定律 | 第13-15页 |
·实际物体的红外辐射定律 | 第15-17页 |
·红外热波无损检测原理 | 第17-18页 |
·红外热成像原理 | 第18-20页 |
3 红外阵列检测平台的构建 | 第20-46页 |
·红外阵列检测平台的组成 | 第20页 |
·温度传感器的选型 | 第20-22页 |
·热电堆传感器 TPS334L55 简介 | 第21-22页 |
·线阵探头组的构建 | 第22页 |
·探头适配电路 | 第22-25页 |
·ICL7650 工作原理 | 第23-24页 |
·传感器信号前端处理电路 | 第24-25页 |
·TL084 的运用 | 第25页 |
·红外信号的采集 | 第25-29页 |
·AD7891 简介 | 第26-28页 |
·AD7891 的运用 | 第28-29页 |
·自校准电路的实现 | 第29-33页 |
·数字电位器AD8403 简介 | 第29-31页 |
·实现自校准的原理 | 第31-33页 |
·用户界面 | 第33-34页 |
·4×4 矩阵键盘模块 | 第33-34页 |
·7 寸彩色液晶屏显示模块 | 第34页 |
·数据存储与传输模块 | 第34-36页 |
·红外数据的实时存储 | 第34-35页 |
·系统与PC 机的通信 | 第35-36页 |
·系统主控芯片的选取 | 第36-42页 |
·STC89C54RD+的运用 | 第36页 |
·EPM7128SQC160 的运用 | 第36-40页 |
·单片机和CPLD 数据接口的实现 | 第40-42页 |
·系统电源模块的设计 | 第42-46页 |
·系统中模拟电源和数字电源的设计 | 第42-43页 |
·液晶背光驱动电源的设计 | 第43-46页 |
4 系统软件设计 | 第46-48页 |
·软件设计环境 | 第46页 |
·系统软件的总体设计 | 第46-48页 |
5 系统测试与试验 | 第48-61页 |
·系统测试与调试 | 第48-50页 |
·系统静态测试 | 第48页 |
·系统硬件调试 | 第48-49页 |
·系统软件调试 | 第49-50页 |
·红外成像试验 | 第50-52页 |
·探头一致性检测试验 | 第50-52页 |
·有机玻璃板槽形缺陷检测试验 | 第52-55页 |
·有机玻璃板埋孔缺陷检测试验 | 第55-57页 |
·橡胶板脱粘缺陷红外成像试验 | 第57-61页 |
6 结论 | 第61-63页 |
·已经完成的工作 | 第61页 |
·展望 | 第61-63页 |
附录1:检测平台实物图 | 第63-64页 |
附录2:检测平台主控板原理图 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第69-70页 |
致谢 | 第70页 |