数控系统加速寿命试验方法及可靠性评估技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 1 绪论 | 第10-21页 |
| ·课题的来源 | 第10页 |
| ·课题的意义 | 第10-11页 |
| ·课题的国内外研究概况及发展趋势 | 第11-17页 |
| ·课题的研究内容和技术方案 | 第17-21页 |
| 2 基于现场数据的数控系统可靠性分析 | 第21-42页 |
| ·基于现场数据的可靠性统计分析方法和基本步骤 | 第21-22页 |
| ·数控系统故障时间分布模型建立 | 第22-31页 |
| ·故障模式影响和致命度分析 | 第31-36页 |
| ·数控系统可靠性评估软件开发 | 第36-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 3 基于Bayes理论的小子样可靠性评估 | 第42-57页 |
| ·小子样可靠性评估概述 | 第42-43页 |
| ·Bayes可靠性评估理论 | 第43-46页 |
| ·基于故障率的数控系统可靠性Bayes评估方法 | 第46-51页 |
| ·基于模型转换的数控系统可靠性Bayes评估方法 | 第51-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 4 自适应加速寿命试验的可靠性评估方法 | 第57-78页 |
| ·加速寿命试验的可靠性评估问题描述 | 第57-58页 |
| ·自适应加速寿命试验方法 | 第58-61页 |
| ·数控系统的自适应加速寿命试验 | 第61-63页 |
| ·自适应加速寿命试验的加速模型与数据折算方法 | 第63-67页 |
| ·数控系统的步加试验数据统计分析 | 第67-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 5 自适应加速寿命试验方案的优化理论及方法 | 第78-88页 |
| ·威布尔分布加速寿命试验方案优化的基本方法 | 第78-79页 |
| ·数控系统自适应加速寿命试验的试验方案优化方法 | 第79-83页 |
| ·自适应加速寿命试验优化方案算例 | 第83-87页 |
| ·本章小结 | 第87-88页 |
| 6 可靠性测试平台及应用 | 第88-100页 |
| ·数控系统可靠性测评试验平台及理论验证 | 第88页 |
| ·数控系统可靠性测试平台建立 | 第88-91页 |
| ·数控系统可靠性试验数据分析 | 第91-98页 |
| ·本章小结 | 第98-100页 |
| 7 结论及展望 | 第100-103页 |
| ·主要研究成果和创新点 | 第100-102页 |
| ·进一步研究展望 | 第102-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |
| 参考文献 | 第104-111页 |
| 附录1 攻读博士学位期间发表的论文和专利目录 | 第111页 |
