| 摘要 | 第1-10页 |
| ABSTRACT | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-20页 |
| ·课题来源及意义 | 第11-12页 |
| ·ACFM 技术特点及国内外相关研究现状 | 第12-15页 |
| ·ACFM 技术产生背景及特点 | 第12-14页 |
| ·ACFM 应用基础研究现状 | 第14-15页 |
| ·涡流成像技术的国内外研究现状 | 第15-18页 |
| ·涡流成像技术的介绍 | 第15-16页 |
| ·阻抗扫描成像的国内外研究现状 | 第16-18页 |
| ·论文的主要内容 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第二章 交变磁场测量技术的理论基础 | 第20-35页 |
| ·交变磁场测量的基本原理 | 第20-26页 |
| ·交变磁场测量物理模型的建立及分析 | 第20-25页 |
| ·交变磁场测量的基本原理 | 第25-26页 |
| ·有限元法对三维涡流场问题的描述 | 第26-29页 |
| ·位函数对时稳场的描述方程 | 第27-28页 |
| ·位函数对涡流求解区域描述 | 第28-29页 |
| ·ANSYS 在ACFM 中的应用 | 第29-34页 |
| ·仿真模型的建立及描述 | 第30-32页 |
| ·仿真结果的分析 | 第32-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第三章 交变磁场测量扫描成像系统的研制 | 第35-50页 |
| ·系统的总体设计 | 第35-36页 |
| ·系统硬件平台的设计 | 第36-47页 |
| ·扫描装置设计 | 第36页 |
| ·信号源的设计 | 第36-41页 |
| ·传感器的设计 | 第41-43页 |
| ·调理电路的设计 | 第43-45页 |
| ·数据采集 | 第45-47页 |
| ·成像系统的软件设计 | 第47-48页 |
| ·本章小结 | 第48-50页 |
| 第四章 缺陷识别及特征量的提取 | 第50-65页 |
| ·信号预处理 | 第50-54页 |
| ·缺陷识别 | 第54-58页 |
| ·通过阻抗图识别缺陷 | 第54-56页 |
| ·通过蝶形图识别缺陷 | 第56-58页 |
| ·通过Bz 提取缺陷长度信息 | 第58-62页 |
| ·直接法确定峰值点 | 第60页 |
| ·斜率法确定峰值点 | 第60-61页 |
| ·建模法确定峰值点 | 第61-62页 |
| ·通过Bx 提取缺陷深度信息 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 第五章 交变磁场测量在裂纹检测中扫描成像技术的研究 | 第65-76页 |
| ·裂纹扫描成像的基础 | 第65-66页 |
| ·被测试件的加工 | 第65页 |
| ·扫描成像检测 | 第65-66页 |
| ·ACFM 扫描成像中不同图像的显示 | 第66-70页 |
| ·时基扫描图 | 第66-69页 |
| ·阻抗图和蝶形图 | 第69页 |
| ·C 扫描图像 | 第69-70页 |
| ·通过Bx 实现裂纹的C 扫描成像 | 第70-73页 |
| ·通过Bx、Bz 共同实现裂纹C 扫描成像 | 第73-75页 |
| ·本章小结 | 第75-76页 |
| 第六章 结论与展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第83页 |