爆炸场多参数存储测试系统研究及设计
摘要 | 第5-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-24页 |
1.1 课题研究背景及意义 | 第11-12页 |
1.1.1 研究背景 | 第11页 |
1.1.2 课题研究意义 | 第11-12页 |
1.2 毁伤理论及毁伤评估准则 | 第12-18页 |
1.2.1 冲击波及其毁伤准则 | 第12-14页 |
1.2.2 热效应毁伤参数及毁伤评估 | 第14-16页 |
1.2.3 破片毁伤 | 第16-17页 |
1.2.4 爆炸场电磁干扰及其他毁伤效应 | 第17-18页 |
1.3 爆炸场毁伤测试方法及研究现状 | 第18-22页 |
1.3.1 冲击波压力测试 | 第18-20页 |
1.3.2 热效应毁伤参数及爆温研究现状 | 第20-21页 |
1.3.3 磁场测试方法及研究现状 | 第21-22页 |
1.4 章节安排 | 第22-24页 |
第二章 爆炸场瞬态磁场测试研究 | 第24-36页 |
2.1 爆炸场磁场测试背景 | 第24页 |
2.2 传感器的选择及工作原理 | 第24-27页 |
2.2.1 磁通门传感器及其工作原理 | 第24-25页 |
2.2.2 传感器特性参数及工作原理 | 第25-27页 |
2.3 瞬态磁场测试系统 | 第27-28页 |
2.4 磁场测试系统静态性能指标研究 | 第28-33页 |
2.4.1 外磁场强度与测试电路输出关系 | 第29-31页 |
2.4.2 电流方向改变时磁场强度与电路输出关系 | 第31-32页 |
2.4.3 磁场与敏感轴夹角与电路输出电压间关系 | 第32-33页 |
2.5 爆炸场磁场测试应用 | 第33-34页 |
2.6 磁场测试结果分析 | 第34页 |
2.7 本章总结 | 第34-36页 |
第三章 柔性传感冲击波压力测试方法 | 第36-45页 |
3.1 柔性传感器研究目的及意义 | 第36-37页 |
3.2 PVDF压电薄膜及其特性 | 第37-38页 |
3.3 薄膜压电传感器封装制作 | 第38-40页 |
3.3.1 压电薄膜特性描述 | 第38页 |
3.3.2 压电传感器封装 | 第38-40页 |
3.4 压电薄膜传感器的调理电路 | 第40-41页 |
3.5 基于激波管的动态参数实验 | 第41-43页 |
3.5.1 动态特性实验系统组成 | 第41页 |
3.5.2 激波管工作原理 | 第41-43页 |
3.6 对薄膜传感器的初步验证实验 | 第43-44页 |
3.7 本章总结 | 第44-45页 |
第四章 爆温测试传感器动态特性补偿方法研究 | 第45-52页 |
4.1 爆温测试背景 | 第45页 |
4.2 热电偶测温原理及动态参数 | 第45-47页 |
4.2.1 热电偶测温原理 | 第45-46页 |
4.2.2 热电偶动态特性参数 | 第46-47页 |
4.3 热电偶动态补偿滤波器模型的建立 | 第47-51页 |
4.4 本章总结 | 第51-52页 |
第五章 多参数存储测试系统设计 | 第52-70页 |
5.1 多参数存储测试系统设计方案 | 第52页 |
5.2 多参数存储测试技术研究 | 第52-56页 |
5.2.1 存储测试技术实现方法 | 第53-55页 |
5.2.2 装置内触发信号的选择 | 第55-56页 |
5.2.3 存储容量划分 | 第56页 |
5.3 硬件电路实现 | 第56-64页 |
5.3.1 芯片选择及相关电路参数计算 | 第57-58页 |
5.3.2 控制电路设计 | 第58-59页 |
5.3.3 通道切换电路设计 | 第59-60页 |
5.3.4 模数转换(A/D)电路设计 | 第60-61页 |
5.3.5 存储电路设计 | 第61-62页 |
5.3.6 通信接口电路设计 | 第62-64页 |
5.3.7 电源电路设计 | 第64页 |
5.4 模块功能验证 | 第64-67页 |
5.4.1 A/D模块功能验证 | 第65-66页 |
5.4.2 存储器模块功能验证 | 第66-67页 |
5.5 系统功能验证 | 第67-69页 |
5.6 本章总结 | 第69-70页 |
第六章 总结与展望 | 第70-72页 |
6.1 总结 | 第70页 |
6.2 不足与展望 | 第70-72页 |
参考文献 | 第72-76页 |
攻读硕士期间发表的论文及所取得的研究成果 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |