基于FPGA的SIFT算法架构实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第15-21页 |
| 1.1 研究工作的背景与意义 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外的研究现状 | 第16-19页 |
| 1.2.1 局部特征技术发展现状 | 第16-17页 |
| 1.2.2 FPGA发展现状 | 第17-19页 |
| 1.3 本文的研究内容与结构安排 | 第19-21页 |
| 第二章 局部特征提取关键技术 | 第21-41页 |
| 2.1 引言 | 第21页 |
| 2.2 图像尺度空间理论 | 第21-25页 |
| 2.2.1 图像尺度空间的基本表示 | 第21-23页 |
| 2.2.2 高斯尺度空间的基本性质 | 第23-25页 |
| 2.3 斑点检测理论 | 第25-29页 |
| 2.3.1 LoG斑点检测 | 第26-28页 |
| 2.3.2 DoH斑点检测 | 第28-29页 |
| 2.4 边缘检测理论 | 第29-36页 |
| 2.4.1 Lindeberg边缘检测 | 第30-33页 |
| 2.4.2 Canny边缘检测 | 第33-36页 |
| 2.5 角点检测理论 | 第36-40页 |
| 2.5.1 基于边缘特征角点检测 | 第36-38页 |
| 2.5.2 基于亮度变化角点检测 | 第38-40页 |
| 2.6 本章小结 | 第40-41页 |
| 第三章 基于SIFT的局部特征算法研究 | 第41-54页 |
| 3.1 引言 | 第41页 |
| 3.2 SIFT算法原理 | 第41-50页 |
| 3.2.1 尺度空间关键点检测 | 第42-45页 |
| 3.2.2 关键点位置及尺度精确定位 | 第45-47页 |
| 3.2.3 关键点主方向计算 | 第47-48页 |
| 3.2.4 特征矢量生成 | 第48-50页 |
| 3.3 基于SIFT算法的匹配 | 第50-53页 |
| 3.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第四章 SIFT算法并行架构设计 | 第54-92页 |
| 4.1 引言 | 第54页 |
| 4.2 早期相关工作 | 第54-55页 |
| 4.3 SIFT算法并行架构设计 | 第55-84页 |
| 4.3.1 算法介绍及基本参数设置 | 第55-57页 |
| 4.3.2 定点数位数选择 | 第57-59页 |
| 4.3.3 系统总体架构 | 第59-60页 |
| 4.3.4 顶层状态机设计 | 第60-61页 |
| 4.3.5 尺度空间建立模块 | 第61-64页 |
| 4.3.6 关键点精确定位与筛选模块 | 第64-72页 |
| 4.3.7 梯度幅值和幅角计算模块 | 第72-77页 |
| 4.3.8 关键点主方向计算模块 | 第77-79页 |
| 4.3.9 关键点描述矢量计算模块 | 第79-83页 |
| 4.3.10 关键点匹配模块 | 第83-84页 |
| 4.4 系统仿真实验结果 | 第84-91页 |
| 4.4.1 系统性能与功能验证 | 第84-90页 |
| 4.4.2 FPGA综合结果 | 第90-91页 |
| 4.5 本章小结 | 第91-92页 |
| 第五章 全文总结与展望 | 第92-94页 |
| 5.1 全文小结 | 第92页 |
| 5.2 后续工作展望 | 第92-94页 |
| 致谢 | 第94-95页 |
| 参考文献 | 第95-98页 |
| 攻读硕士学位期间取得的成果 | 第98-99页 |
| 个人简历 | 第99-100页 |
| 学位论文评审后修改说明表 | 第100-102页 |
| 学位论文答辩后勘误修订说明表 | 第102-103页 |
