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基于MCU+CPLD控制系统的高性能栅控行波管发射机设计

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第11-14页
    1.1 研究背景及意义第11页
    1.2 发展现状及应用前景第11-13页
    1.3 本论文的主要研究工作第13-14页
第二章 发射机系统组成和各单元功能指标要求第14-19页
    2.1 发射机系统功能简介第14页
    2.2 发射机系统组成第14-15页
    2.3 主要技术指标和功能要求第15-18页
        2.3.1 发射机系统主要技术指标第15-16页
        2.3.2 控制检测系统功能要求第16页
        2.3.3 行波管高压电源指标要求第16-17页
        2.3.4 脉冲调制器指标要求第17-18页
    2.4 本章小结第18-19页
第三章 基于MCU+CPLD的发射机控制检测系统第19-26页
    3.1 控制检测系统简介第19-20页
    3.2 控制检测系统架构第20-21页
    3.3 控制检测系统和中心机的通讯功能第21-22页
    3.4 发射机系统故障分类及故障在线检测说明第22-23页
    3.5 控制检测系统设计中注意的几个问题第23-24页
        3.5.1 钥匙字对抗干扰的作用第23-24页
        3.5.2 本控、遥控间的状态跟随第24页
        3.5.3 印制板分区和光隔离器件的联合应用第24页
    3.6 本章小结第24-26页
第四章 控制检测系统软件设计第26-54页
    4.1 控制软件功能说明第26-27页
    4.2 软件结构第27-28页
        4.2.1 控制软件组成第27页
        4.2.2 控制软件接第27-28页
    4.3 基本数据结构说明第28-34页
        4.3.1 控制程序中命令缓冲区、状态缓冲区的程序实现第28页
        4.3.2 循环队列的定义第28-29页
        4.3.3 入队操作程序第29-30页
        4.3.4 出队操作程序第30-31页
        4.3.5 循环队列初始化第31-32页
        4.3.6 队列中已有数据个数求取第32页
        4.3.7 状态读取中数据三次读取确认第32-34页
    4.4 控制软件程序设计分析第34-37页
        4.4.1 执行控制流程说明第34页
        4.4.2 数据交换流程说明第34-36页
        4.4.3 MCU程序工作分析第36-37页
    4.5 软件单元详细设计第37-48页
    4.6 基于CPLD占空比检测电路设计第48-53页
        4.6.1 占空比检测电路简介第48页
        4.6.2 工作原理第48-49页
        4.6.3 电路设计第49-53页
    4.7 本章小结第53-54页
第五章 高压电源和脉冲调制器的设计研究第54-65页
    5.1 发射机系统中电源和调制器的组成及作用第54页
    5.2 栅控行波管高压电源的设计分析第54-58页
        5.2.1 高压电源组成第56-57页
        5.2.2 高压电源工作原理第57页
        5.2.3 开关变换器设计第57-58页
        5.2.4 高压单元设计第58页
    5.3 脉冲调制器设计第58-64页
        5.3.1 脉冲调制器的分类第59页
        5.3.2 发射机系统中脉冲调制器设计及选择第59-64页
    5.4 本章小结第64-65页
第六章 控制界面和测试结果第65-69页
    6.1 控制界面第65页
    6.2 发射机系统测量结果第65-69页
        6.2.1 功率测试结果第66-68页
        6.2.2 其他参数测试结果第68-69页
第七章 结论第69-70页
    7.1 本文的主要贡献第69页
    7.2 下一步工作展望第69-70页
致谢第70-71页
参考文献第71-73页
附录A第73-77页
附录B第77-81页
攻硕期间取得的研究成果第81-82页

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