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适用于纳米级可编程逻辑器件的BRAM设计与研究

摘要第4-5页
ABSTRACT第5页
第1章 绪论第8-14页
    1.1 课题研究背景意义及来源第8-9页
    1.2 FPGA的体系结构第9-11页
        1.2.1 可编程逻辑模块CLB第9-10页
        1.2.2 可编程输入输出模块IOB第10页
        1.2.3 可编程互连线模块PI第10-11页
    1.3 国内外研究现状第11-13页
        1.3.1 FPGA研究现状第11-12页
        1.3.2 BRAM研究现状第12-13页
    1.4 本文的主要研究内容第13-14页
第2章 FPGA中 18K容量BRAM电路设计第14-33页
    2.1 SRAM存储单元电路设计第14-15页
    2.2 灵敏放大器电路设计第15页
    2.3 译码电路设计第15-25页
        2.3.1 行译码电路第15-17页
        2.3.2 列译码电路第17-20页
        2.3.3 位宽选择电路第20页
        2.3.4 数据输入电路第20-21页
        2.3.5 数据输出电路第21-25页
    2.4 读写控制逻辑电路设计第25-29页
    2.5 初始化/回读控制电路设计第29-30页
    2.6 配置电路设计第30-31页
    2.7 18K容量RAM阵列结构设计第31-32页
    2.8 本章小结第32-33页
第3章 BRAM功能研究与设计第33-46页
    3.1 BRAM中集成的FIFO控制逻辑第33-40页
        3.1.1 使用FIFO的BRAM架构图第33-34页
        3.1.2 FIFO控制逻辑的工作模式第34-35页
        3.1.3 BRAM配置成同步FIFO第35页
        3.1.4 BRAM配置成异步FIFO第35-36页
        3.1.5 FIFO控制逻辑时序图分析第36-40页
    3.2 BRAM中集成的ECC控制逻辑第40-45页
        3.2.1 使用ECC的BRAM架构图第40-41页
        3.2.2 使用ECC的BRAM和FIFO库原型第41-42页
        3.2.3 ECC控制逻辑工作模式总览第42页
        3.2.4 ECC控制逻辑的工作模式第42-45页
    3.3 本章小结第45-46页
第4章 BRAM设计实现与功能验证第46-58页
    4.1 BRAM内部结构与设计实现第46-50页
    4.2 BRAM整体功能逻辑验证第50-57页
        4.2.1 功能逻辑验证 1第50-51页
        4.2.2 功能逻辑验证 2第51-53页
        4.2.3 功能逻辑验证 3第53-55页
        4.2.4 功能逻辑验证 4第55-57页
    4.3 本章小结第57-58页
结论第58-59页
参考文献第59-63页
致谢第63页

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