| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-23页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第10-13页 |
| 1.2 电离层国内外研究现状 | 第13-17页 |
| 1.2.1 电离层研究简史 | 第13-14页 |
| 1.2.2 电离层研究现状 | 第14-17页 |
| 1.3 电离层相关术语和定义 | 第17-20页 |
| 1.4 本文研究动机和目标 | 第20-23页 |
| 第二章 数据观测和处理 | 第23-31页 |
| 2.1 电离层分层结构 | 第23页 |
| 2.2 “子午工程”简介 | 第23-24页 |
| 2.3 深圳电离层观测站 | 第24-28页 |
| 2.3.1 电离层闪烁和 TEC 观测数据及处理 | 第25-28页 |
| 2.3.2 电离层闪烁强度级别划分 | 第28页 |
| 2.4 武汉、海南站电离层测高站 | 第28-31页 |
| 第三章 TEC 耗尽及增强与电离层闪烁的相关性 | 第31-48页 |
| 3.1 电离层 TEC 的变化特性 | 第32-36页 |
| 3.1.1 周日变化 | 第32-33页 |
| 3.1.2 逐日变化 | 第33页 |
| 3.1.3 季节变化 | 第33-35页 |
| 3.1.4 太阳活动周期变化 | 第35-36页 |
| 3.2 基于 GPS 观测的分析结果 | 第36-46页 |
| 3.2.1 TEC 耗尽 | 第36-38页 |
| 3.2.2 TEC 耗尽和闪烁统计分析 | 第38-40页 |
| 3.2.3 TEC 耗尽 ROTI 指数和 S4指数对比 | 第40-42页 |
| 3.2.4 TEC 耗尽反演的等离子体泡的特性 | 第42-43页 |
| 3.2.5 TEC 增强 | 第43-44页 |
| 3.2.6 连续 TEC 耗尽和增强 | 第44-46页 |
| 3.3 小结 | 第46-48页 |
| 第四章 电离层测高数据对太阳耀斑的响应分析 | 第48-57页 |
| 4.1 电离层测高数据对太阳耀斑的响应 | 第49-52页 |
| 4.1.1 电离图对 X2.2 级耀斑的即时响应 | 第49-50页 |
| 4.1.2 fmin 对连续爆发耀斑的响应 | 第50-52页 |
| 4.2 太阳耀斑参数对电子浓度影响分析 | 第52-54页 |
| 4.2.1 耀斑等级对电子浓度的影响 | 第52-53页 |
| 4.2.2 耀斑持续时间对电子浓度的影响 | 第53-54页 |
| 4.3 不同地方时爆发的耀斑对电子浓度影响 | 第54-55页 |
| 4.4 小结 | 第55-57页 |
| 第五章 总结与展望 | 第57-59页 |
| 本文的创新点 | 第58页 |
| 以后的工作展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-64页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第64-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 附件 | 第66页 |