| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-24页 |
| 1.1 铁磁性形状记忆合金简介 | 第10-11页 |
| 1.1.1 马氏体相变与形状记忆效应 | 第10-11页 |
| 1.1.2 磁场诱发形状记忆效应机制 | 第11页 |
| 1.2 Co-Ni-Ga 形状记忆合金简介 | 第11-14页 |
| 1.2.1 Co-Ni-Ga 合金的相组成和晶体结构 | 第12页 |
| 1.2.2 Co-Ni-Ga 合金的马氏体相变及其影响因素 | 第12-13页 |
| 1.2.3 Co-Ni-Ga 合金粉末的制备 | 第13-14页 |
| 1.3 汽车用继电器负载及其触点材料简介 | 第14-18页 |
| 1.3.1 汽车用继电器负载 | 第14-16页 |
| 1.3.2 汽车用继电器的触点材料 | 第16-18页 |
| 1.4 触点材料的制备工艺 | 第18-20页 |
| 1.5 触点材料的烧结及成型形 | 第20-22页 |
| 1.5.1 触点材料的成形 | 第20-21页 |
| 1.5.2 触点的烧结 | 第21-22页 |
| 1.6 本论文研究的目的和意义 | 第22-24页 |
| 第二章 实验方法及设备 | 第24-30页 |
| 2.1 实验原料及仪器 | 第24页 |
| 2.1.1 实验原料 | 第24页 |
| 2.1.2 实验设备 | 第24页 |
| 2.2 实验流程 | 第24-26页 |
| 2.2.1 Co-Ni-Ga 合金的制备 | 第24-25页 |
| 2.2.2 继电器触点的合成 | 第25页 |
| 2.2.3 继电器触点的测试 | 第25-26页 |
| 2.3 试验用分析检测设备 | 第26-27页 |
| 2.3.1 X 射线衍射分析(XRD) | 第26页 |
| 2.3.2 扫描电子显微镜(SEM) | 第26页 |
| 2.3.3 差热分析(DTA) | 第26-27页 |
| 2.4 实验用电路 | 第27-28页 |
| 2.5 触点测试设备 | 第28-30页 |
| 第三章 继电器触点的合成 | 第30-40页 |
| 3.1 试验用 Co-Ni-Ga 合金化学成分的选择 | 第30页 |
| 3.2 Co-Ni-Ga 合金晶体结构及形貌的表征 | 第30-35页 |
| 3.2.1 Co-Ni-Ga 合金的形貌表征 | 第30-31页 |
| 3.2.2 Co-Ni-Ga 合金的晶体结构 | 第31-35页 |
| 3.3 Co-Ni-Ga 合金的相变温度及其影响因素 | 第35-37页 |
| 3.4 Ag-CoNiGa 触点材料的合成 | 第37页 |
| 3.5 触点的焊接 | 第37-38页 |
| 3.6 本章小结 | 第38-40页 |
| 第四章 42V 条件下触点的测试结果及讨论 | 第40-52页 |
| 4.1 Co-Ni-Ga 合金对触点密度及电阻率的影响 | 第40-41页 |
| 4.2 触点材料质量的损失及原因 | 第41-43页 |
| 4.3 触点的质量损失与相变温度的关系 | 第43-44页 |
| 4.4 测试后触点的表面形貌 | 第44-50页 |
| 4.4.1 Ag-Co_(40)Ni_(30)Ga_(30)系列触点形貌的表征 | 第44-47页 |
| 4.4.2 Ag-CoNiGa10%系列触点的形貌表征 | 第47-48页 |
| 4.4.3 与 Ag-SnO_2型触点受损形貌的比较 | 第48-50页 |
| 4.6 本章小结 | 第50-52页 |
| 第五章 结论 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
