按键测试系统的设计与嵌入式方法研究
| 摘要 | 第1-7页 |
| ABSTRACT | 第7-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·前言 | 第10页 |
| ·国内外发展现状 | 第10-11页 |
| ·嵌入式操作系统现状 | 第11-12页 |
| ·课题的研究意义 | 第12页 |
| ·本文研究内容和主要工作 | 第12-14页 |
| 第2章 按键测试系统的整体方案设计 | 第14-21页 |
| ·按键测试仪的工作原理及性能参数 | 第14-16页 |
| ·按键测试仪的工作原理 | 第14-15页 |
| ·系统需测试的按键性能参数 | 第15-16页 |
| ·按键测试系统设计方案 | 第16-20页 |
| ·系统规格及主要技术指标 | 第16-17页 |
| ·系统总体结构图 | 第17页 |
| ·系统组成单元具体方案设计 | 第17-20页 |
| ·本章小结 | 第20-21页 |
| 第3章 按键测试系统硬件电路的设计 | 第21-39页 |
| ·系统硬件电路设计的要求 | 第21页 |
| ·硬件电路的选型论证与设计 | 第21-33页 |
| ·主控制器硬件平台结构图 | 第21-22页 |
| ·JTAG调试接口 | 第22-23页 |
| ·复位及掉电保护电路的设计 | 第23-24页 |
| ·串行通信接口 | 第24-25页 |
| ·电源电路的设计 | 第25-26页 |
| ·力量信号采集电路 | 第26-28页 |
| ·位移信号采集电路 | 第28-29页 |
| ·伺服电机控制电路 | 第29-33页 |
| ·硬件抗干扰性及可靠性研究 | 第33-38页 |
| ·电磁干扰的形成因素 | 第33-34页 |
| ·干扰的来源 | 第34页 |
| ·干扰的耦合途径 | 第34-35页 |
| ·硬件上拟采取的抗干扰措施 | 第35-38页 |
| ·本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 按键测试系统软件设计 | 第39-53页 |
| ·编程语言的选择及论证 | 第39-40页 |
| ·μC/OS-II介绍 | 第40-43页 |
| ·μC/OS-II在LPC2131上的移植 | 第43-50页 |
| ·移植的可行性分析 | 第43-44页 |
| ·编写OS_CPU.H | 第44-45页 |
| ·编写OS_CPU_C.C文件 | 第45-47页 |
| ·编写OS_CPU_A.ASM | 第47-50页 |
| ·串口驱动 | 第50-52页 |
| ·串口驱动简介 | 第50页 |
| ·API函数集 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 按键测试系统控制策略研究 | 第53-59页 |
| ·PID控制器简述 | 第53-55页 |
| ·模糊控制器综述 | 第55页 |
| ·按键测试系统的模糊PID控制器设计 | 第55-58页 |
| ·模糊PID控制器的结构 | 第56-57页 |
| ·模糊控制规则的确定 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 第6章 基于LabVIEW的上位机软件设计 | 第59-78页 |
| ·开发环境LabVIEW简介 | 第59-61页 |
| ·软件总体框架 | 第61-62页 |
| ·软件各部分功能详解 | 第62-68页 |
| ·基于LabVIEW的上位机软件设计 | 第68-74页 |
| ·通信方式 | 第68-69页 |
| ·校验方式 | 第69-72页 |
| ·软件设计 | 第72-74页 |
| ·软件的抗干扰分析 | 第74-77页 |
| ·本章小结 | 第77-78页 |
| 第7章 总结与展望 | 第78-79页 |
| ·论文工作总结 | 第78页 |
| ·课题延续 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文 | 第82-83页 |
| 致谢 | 第83页 |
