摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-8页 |
第1章 前言 | 第11-16页 |
1.1 选题依据及研究意义 | 第11-12页 |
1.2 国内外研究现状 | 第12-13页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第12-13页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第13页 |
1.3 论文的主要研究内容和创新点 | 第13-16页 |
1.3.1 主要研究内容 | 第13-14页 |
1.3.2 创新性成果 | 第14-16页 |
第2章 测井理论和系统整体设计 | 第16-26页 |
2.1 X 射线荧光测井定性分析 | 第16-18页 |
2.2 X 射线荧光测井定量分析 | 第18-23页 |
2.2.1 元素特征X 射线照射量率与含量的理论公式 | 第18-21页 |
2.2.2 X 射线荧光测井的理论公式 | 第21-23页 |
2.3 X 射线荧光测井仪工作原理 | 第23-24页 |
2.4 X 射线荧光测井系统构成 | 第24-26页 |
第3章 探管的结构设计 | 第26-45页 |
3.1 探管材料的选择 | 第26页 |
3.2 探管的贴井壁方式 | 第26-28页 |
3.3 探管的机械结构 | 第28-30页 |
3.3.1 探管的总体结构 | 第28-29页 |
3.3.2 支撑臂结构 | 第29-30页 |
3.4 探管贴壁工作原理 | 第30-32页 |
3.4.1 探管贴壁工作原理 | 第30-31页 |
3.4.2 电控支撑臂驱动装置 | 第31-32页 |
3.5 机构的受力分析和校核 | 第32-39页 |
3.5.1 支撑臂的受力分析和校核 | 第32-34页 |
3.5.2 驱动装置的受力分析和校核 | 第34-38页 |
3.5.3 驱动电机 | 第38-39页 |
3.6 探管的受力分析及校核 | 第39-40页 |
3.7 探管的密封 | 第40-45页 |
3.7.1 O 形密封圈密封原理 | 第41-42页 |
3.7.2 井下15MPa 压力下的密封分析 | 第42-43页 |
3.7.3 O 形密封圈失效 | 第43-44页 |
3.7.4 支撑臂推杆的动密封 | 第44-45页 |
第4章 X 射线荧光探头的设计 | 第45-55页 |
4.1 激发方式选择 | 第45-47页 |
4.1.1 X光管 | 第45-46页 |
4.1.2 同位素激发源 | 第46-47页 |
4.2 探测器选择 | 第47-51页 |
4.3 源-样-探几何布置 | 第51-53页 |
4.4 探头的结构 | 第53-55页 |
4.4.1 | 第53-54页 |
4.4.2 探测器屏蔽材料的安装 | 第54-55页 |
第5章 井液的影响与校正 | 第55-76页 |
5.1 井液的影响 | 第55-56页 |
5.2 井液的校正 | 第56-59页 |
5.2.1 基本校正公式 | 第56-57页 |
5.2.2 井液厚度的确定 | 第57-59页 |
5.2.3 井液校正方法——散射内标法 | 第59页 |
5.3 用蒙特卡罗(MC)方法计算井液厚度 | 第59-64页 |
5.3.1 蒙特卡罗(MC)理论概述 | 第59-60页 |
5.3.2 蒙特卡罗模拟软件——MCNP | 第60-61页 |
5.3.3 建立模拟模型 | 第61-63页 |
5.3.4 模拟结果 | 第63-64页 |
5.4 井液的实验 | 第64-75页 |
5.4.1 水层厚度和7 种Cu 含量样品的实验 | 第64-71页 |
5.4.2 不同类型井液实验 | 第71-75页 |
5.5 井液校正的效果 | 第75-76页 |
第6章 X 射线荧光测井试验 | 第76-91页 |
6.1 试验井X 射线荧光测井 | 第76-80页 |
6.1.1 试验井连续X 荧光测井结果与分析 | 第76-78页 |
6.1.2 试验井点测X 荧光测井结果与分析 | 第78-79页 |
6.1.3 试验井X 射线荧光测井总结 | 第79-80页 |
6.2 拉拉铜矿区X 射线荧光测井试验 | 第80-91页 |
6.2.1 X 射线荧光测井试验 | 第80-87页 |
6.2.2 拉拉铜矿ZK702 号勘探井测井结果讨论 | 第87-88页 |
6.2.3 拉拉铜矿ZK702 号勘查井测井总结 | 第88-91页 |
结论 | 第91-93页 |
致谢 | 第93-94页 |
参考文献 | 第94-97页 |
攻读学位期间取得学术成果 | 第97-98页 |
附录A 野外测井实验数据 | 第98-111页 |
附录B 探头源样安装示意图 | 第111页 |