工作气压和负偏压对等离子体聚烯丙胺薄膜的结构组成与力学行为的影响
| 摘要 | 第1-8页 |
| Abstract | 第8-13页 |
| 第1章 绪论 | 第13-24页 |
| ·低温等离子体的性质及其应用 | 第13-17页 |
| ·低温等离子体的基本性质 | 第13-14页 |
| ·低温等离子体表面改性 | 第14-15页 |
| ·等离子体表面技术的应用 | 第15-17页 |
| ·等离子体聚合薄膜的制备、结构及应用 | 第17-21页 |
| ·等离子体聚合薄膜的制备 | 第17-19页 |
| ·等离子体聚合薄膜的结构 | 第19页 |
| ·等离子体聚合薄膜的应用进展 | 第19-21页 |
| ·等离子体聚合薄膜研究中存在的问题 | 第21-22页 |
| ·论文的选题意义、目的以及内容 | 第22-24页 |
| 第2章 实验方法 | 第24-34页 |
| ·实验装置 | 第24-25页 |
| ·等离子体聚合系统 | 第24-25页 |
| ·分析与检测方法 | 第25-33页 |
| ·傅立叶红外光谱议(FTIR)分析 | 第25页 |
| ·薄膜表面胺基密度测试(酸性橙Ⅱ染色法) | 第25-26页 |
| ·X射线光电子能谱(XPS) | 第26页 |
| ·扫描电子显微镜 | 第26页 |
| ·原子力显微镜 | 第26页 |
| ·接触角测试仪 | 第26-27页 |
| ·表面能的计算 | 第27-29页 |
| ·纳米硬度的测量 | 第29-30页 |
| ·划痕法 | 第30-31页 |
| ·基体拉伸法 | 第31-32页 |
| ·台阶仪 | 第32-33页 |
| ·薄膜稳定性表征 | 第33页 |
| ·本章小节 | 第33-34页 |
| 第3章 PPAa薄膜的制备 | 第34-37页 |
| ·基体材料 | 第34页 |
| ·薄膜制备工艺参数的设计和选择 | 第34-35页 |
| ·工作气压 | 第34-35页 |
| ·基体负偏压 | 第35页 |
| ·薄膜制备过程 | 第35-37页 |
| 第4章 工作气压对PPAa薄膜结构和性能的影响 | 第37-53页 |
| ·工作气压对PPAa薄膜成份及键结构影响 | 第37-42页 |
| ·FTIR测试结果与分析 | 第37-40页 |
| ·XPS测试结果与分析 | 第40-41页 |
| ·胺基密度测试结果与分析 | 第41-42页 |
| ·工作气压对薄膜物理性能的影响 | 第42-45页 |
| ·厚度测试结果与分析 | 第42-43页 |
| ·亲疏水性及表面能测试结果与分析 | 第43-44页 |
| ·表面形貌与粗糙度测试结果与分析 | 第44-45页 |
| ·工作气压对PPAa薄膜机械性能的影响 | 第45-49页 |
| ·纳米压痕实验结果与分析 | 第45-46页 |
| ·纳米划痕实验结果与分析 | 第46-47页 |
| ·拉伸实验结果与分析 | 第47-49页 |
| ·工作气压系列PPAa的稳定性 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第5章 负偏压对PPAa薄膜结构和性能的影响 | 第53-66页 |
| ·负偏压对PPAa薄膜成份及键结构的影响 | 第53-56页 |
| ·FTIR测试结果与分析 | 第53-54页 |
| ·XPS测试结果与分析 | 第54-55页 |
| ·胺基密度测试结果与分析 | 第55-56页 |
| ·负偏压对PPAa薄膜物理性能的影响 | 第56-59页 |
| ·厚度测试结果与分析 | 第56页 |
| ·亲疏水性测试结果与分析 | 第56-57页 |
| ·表面形貌与粗糙度测试结果与分析 | 第57-59页 |
| ·负偏压对PPAa薄膜机械性能的影响 | 第59-62页 |
| ·纳米压痕实验测试结果与分析 | 第59-60页 |
| ·纳米划痕实验测试结果与分析 | 第60-61页 |
| ·拉伸实验测试结果与分析 | 第61-62页 |
| ·负偏压系列PPAa薄膜的稳定性 | 第62-65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 结论 | 第66-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-76页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及科研成果 | 第76-77页 |
