基于图像处理的移动导轨挠度检测研究
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4页 |
1 绪论 | 第7-11页 |
1.1 研究背景和意义 | 第7-8页 |
1.2 挠度测量的现状和发展 | 第8-10页 |
1.3 课题研究的主要内容 | 第10页 |
1.4 本章小结 | 第10-11页 |
2 导轨的挠度模型研究 | 第11-19页 |
2.1 挠度模型的建立 | 第11-12页 |
2.2 挠度曲线表达式 | 第12-15页 |
2.3 挠度分析与数值计算 | 第15-18页 |
2.4 本章小结 | 第18-19页 |
3 工作原理及硬件组成 | 第19-30页 |
3.1 系统要求 | 第19-20页 |
3.2 测量原理和参数设计 | 第20-23页 |
3.2.1 测量原理 | 第20-22页 |
3.2.2 参数选取 | 第22-23页 |
3.3 系统组成 | 第23-29页 |
3.3.1 CCD摄像机 | 第23-26页 |
3.3.2 半导体激光器 | 第26-28页 |
3.3.3 图像采集卡 | 第28-29页 |
3.4 本章小结 | 第29-30页 |
4 激光光斑中心检测技术 | 第30-46页 |
4.1 图像预处理 | 第30-32页 |
4.1.1 均值滤波 | 第30-31页 |
4.1.2 中值滤波 | 第31页 |
4.1.3 灰度最小方差的均值滤波 | 第31页 |
4.1.4 滤波方法的选择 | 第31-32页 |
4.2 激光光斑提取 | 第32-35页 |
4.2.1 直方图法 | 第32-33页 |
4.2.2 最大类间方差法 | 第33-35页 |
4.3 激光光斑中心定位算法 | 第35-39页 |
4.3.1 形心法 | 第35页 |
4.3.2 质心法 | 第35页 |
4.3.3 加权灰度质心法 | 第35-36页 |
4.3.4 基于双线性插值的二阶矩法 | 第36-37页 |
4.3.5 圆拟合法 | 第37页 |
4.3.6 高斯曲面拟合法 | 第37-38页 |
4.3.7 抛物面拟合法 | 第38-39页 |
4.4 算法仿真分析 | 第39-42页 |
4.4.1 不同算法仿真 | 第39-41页 |
4.4.2 不同噪声下仿真 | 第41-42页 |
4.5 软度检测软件 | 第42-45页 |
4.6 本章小结 | 第45-46页 |
5 系统的标定、测量和分析 | 第46-52页 |
5.1 标定测量 | 第46-48页 |
5.2 稳定性和重复性测量 | 第48-50页 |
5.3 挠度测量误差分析 | 第50-51页 |
5.3.1 CCD摄像机的影响 | 第50页 |
5.3.2 激光光源的影响 | 第50页 |
5.3.3 光屏的影响 | 第50-51页 |
5.3.4 查表法确定x-y对应关系 | 第51页 |
5.4 本章小结 | 第51-52页 |
6 总结和展望 | 第52-53页 |
致谢 | 第53-54页 |
参考文献 | 第54-56页 |