| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-18页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
| 1.1.1 光纤器件测量的意义 | 第11页 |
| 1.1.2 基于白光干涉原理的光纤器件特性测量优势 | 第11-12页 |
| 1.1.3 基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量 | 第12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-16页 |
| 1.2.1 光纤器件特性测量研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量研究现状 | 第14-16页 |
| 1.3 本文工作 | 第16-18页 |
| 第2章 基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量理论 | 第18-29页 |
| 2.1 测量理论 | 第18-22页 |
| 2.1.1 白光干涉原理 | 第18-20页 |
| 2.1.2 光纤器件的反射特性 | 第20-21页 |
| 2.1.3 基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量原理 | 第21-22页 |
| 2.2 白光干涉测量系统中的性能指标 | 第22-25页 |
| 2.2.1 空间分辨率 | 第23页 |
| 2.2.2 反射测量灵敏度和动态范围 | 第23-24页 |
| 2.2.3 反射测量范围 | 第24页 |
| 2.2.4 反射测量精度 | 第24-25页 |
| 2.3 器件特性测量系统中的噪声分析 | 第25-28页 |
| 2.3.1 本征噪声源 | 第26-27页 |
| 2.3.2 杂散干涉峰的影响 | 第27-28页 |
| 2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于白光干涉技术的大量程延迟线扩展研究 | 第29-42页 |
| 3.1 延迟线扫描范围扩展技术 | 第29-31页 |
| 3.1.1 延迟线扫描范围扩展的意义 | 第29页 |
| 3.1.2 传统延迟线扫描范围扩展方法 | 第29-30页 |
| 3.1.3 延迟线扫描范围扩展的技术瓶颈 | 第30-31页 |
| 3.2 基于阶跃延迟和连续延迟的超大量程延迟线扩展方法研究 | 第31-35页 |
| 3.2.1 超大量程延迟线的工作原理 | 第31-33页 |
| 3.2.2 超大量程延迟线的标定及接续方法研究 | 第33-34页 |
| 3.2.3 延迟线的扫描误差分析 | 第34-35页 |
| 3.3 基于阶跃延迟和连续延迟的延迟线性能测试及应用方案 | 第35-41页 |
| 3.3.1 超大量程延迟线关键技术指标评估 | 第35-38页 |
| 3.3.2 基于白光干涉技术的超大量程延迟线应用方法研究 | 第38-41页 |
| 3.4 本章小结 | 第41-42页 |
| 第4章 基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量系统 | 第42-58页 |
| 4.1 基于白光干涉原理的光纤器件反射特性测量方案 | 第42-49页 |
| 4.1.1 测量系统总体方案 | 第42-43页 |
| 4.1.2 基于Mach-Zehnder干涉仪的测量光路设计 | 第43-46页 |
| 4.1.3 测量系统中关键光纤器件的参数优化及筛选 | 第46-49页 |
| 4.2 测量系统构建及光路参数优化研究 | 第49-52页 |
| 4.2.1 干涉光路传输损耗和带宽对系统的影响 | 第49-51页 |
| 4.2.2 偏振衰落对白光干涉系统的影响分析 | 第51页 |
| 4.2.3 干涉仪臂长差的选择与控制 | 第51-52页 |
| 4.3 测量系统的杂散干涉峰抑制研究 | 第52-57页 |
| 4.3.1 白光干涉测量系统中的杂散干涉峰源 | 第52-53页 |
| 4.3.2 光纤器件生产工艺引起的杂散干涉峰抑制方法研究 | 第53-56页 |
| 4.3.3 干涉光路连接引起的杂散干涉峰抑制方法研究 | 第56-57页 |
| 4.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 第5章 基于白光干涉原理的光纤器件的测试方法研究 | 第58-64页 |
| 5.1 光学器件测试系统的性能指标 | 第58-60页 |
| 5.1.1 系统损耗性能 | 第58页 |
| 5.1.2 系统的测量性能 | 第58-60页 |
| 5.2 典型器件的测试方法研究 | 第60-63页 |
| 5.2.1 单个光纤耦合点的反射和高阶反射特性测量 | 第60-61页 |
| 5.2.2 两个光纤耦合点的反射和高阶反射测量实验 | 第61-62页 |
| 5.2.3 常用光纤器件的测试 | 第62-63页 |
| 5.3 本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-65页 |
| 参考文献 | 第65-69页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文和取得的科研成果 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
