基于PXI的通用型雷达测控系统的设计
摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6页 |
第一章 概述 | 第10-14页 |
1.1 课题来源及背景 | 第10页 |
1.2 国内外发展现状 | 第10-12页 |
1.3 实际应用的意义和价值 | 第12-13页 |
1.4 本文结构安排 | 第13-14页 |
第二章 雷达测控系统设计分析 | 第14-27页 |
2.1 雷达导引头系统发展和特点 | 第14页 |
2.2 雷达测试原理 | 第14-15页 |
2.3 雷达测试需求 | 第15-18页 |
2.4 测控系统设计原则 | 第18-19页 |
2.5 系统总线选择 | 第19-24页 |
2.5.1 CPCI 总线技术 | 第20-21页 |
2.5.2 PXI 总线技术 | 第21-24页 |
2.6 测控软件开发工具 | 第24-27页 |
2.6.1 LabWindows/CVI | 第24-25页 |
2.6.2 LabVIEW | 第25-27页 |
第三章 通用硬件系统设计 | 第27-43页 |
3.1 通用测控系统硬件平台原理 | 第27-28页 |
3.2 机箱结构布局 | 第28-29页 |
3.3 自定义信号总线 | 第29-32页 |
3.4 矩阵开关 | 第32-33页 |
3.5 FPGA 模块 | 第33-34页 |
3.6 前端功能模块 | 第34-40页 |
3.6.1 模拟信号隔离模块设计 | 第35页 |
3.6.2 信号前端调理模块设计 | 第35-36页 |
3.6.3 继电器控制模块设计 | 第36-37页 |
3.6.4 开关状态信号处理模块 | 第37-38页 |
3.6.5 LVDS 数据接收卡设计 | 第38-40页 |
3.7 底层测试控制 | 第40-41页 |
3.7.1 信号采集模块 | 第40页 |
3.7.2 继电器控制模块 | 第40-41页 |
3.7.3 LVDS 数据接收模块 | 第41页 |
3.8 通用 VPC 适配接口 | 第41-43页 |
第四章 测控系统软件设计与实现 | 第43-68页 |
4.1 测控应用软件需求分析 | 第43-45页 |
4.1.1 设备自检功能 | 第43页 |
4.1.2 雷达工作过程控制功能 | 第43页 |
4.1.3 信号实时监测功能 | 第43-44页 |
4.1.4 信息显示功能 | 第44页 |
4.1.5 数据库管理功能 | 第44页 |
4.1.6 数据记录功能 | 第44-45页 |
4.2 测控软件设计要求 | 第45-46页 |
4.3 软件设计概述 | 第46-48页 |
4.3.1 软件结构 | 第46-47页 |
4.3.2 工作模式 | 第47-48页 |
4.4 软件模块设计 | 第48-66页 |
4.4.1 设备自检及初始化模块 | 第48-52页 |
4.4.2 1553B 通讯模块 | 第52-56页 |
4.4.3 LVDS 接收模块 | 第56-59页 |
4.4.4 控制模块 | 第59-61页 |
4.4.5 数据显示模块 | 第61-62页 |
4.4.6 数据管理模块 | 第62-64页 |
4.4.7 通用函数模块 | 第64-65页 |
4.4.8 退出模块 | 第65-66页 |
4.5 数据库设计 | 第66-68页 |
4.5.1 数据库外部设计 | 第66-67页 |
4.5.2 结构设计 | 第67-68页 |
第五章 测控系统测试与验证 | 第68-76页 |
5.1 测控系统的性能验证 | 第68-71页 |
5.1.1 电源供给和监控报警 | 第68-69页 |
5.1.2 模拟信号检测 | 第69页 |
5.1.3 数字状态检测 | 第69-70页 |
5.1.4 开关指令 | 第70-71页 |
5.1.5 通讯接口 | 第71页 |
5.1.6 图像接口 | 第71页 |
5.1.7 测试结果 | 第71页 |
5.2 测控系统的实际应用 | 第71-76页 |
5.2.1 测控系统实物 | 第72页 |
5.2.2 测试界面 | 第72-74页 |
5.2.3 测试数据输出 | 第74-76页 |
第六章 结束语 | 第76-77页 |
致谢 | 第77-78页 |
参考文献 | 第78-80页 |