一种超高频率稳定度的ATCXO电路的研究与设计
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-16页 |
| 第一章 绪论 | 第16-24页 |
| 1.1 研究背景与发展趋势 | 第16-18页 |
| 1.2 石英晶体振荡器的分类 | 第18-21页 |
| 1.3 我国晶振行业的发展现状 | 第21-22页 |
| 1.4 本文的结构安排 | 第22-24页 |
| 第二章 石英晶体特性的研究 | 第24-34页 |
| 2.1 石英晶体的基本特性 | 第24-29页 |
| 2.1.1 石英晶体的阻抗特性 | 第24-27页 |
| 2.1.2 石英晶体的温度-频率特性 | 第27-29页 |
| 2.2 模拟温度补偿的基本原理及芯片整体设计 | 第29-34页 |
| 第三章 压控振荡器 | 第34-48页 |
| 3.1 LC振荡器的工作原理 | 第34-36页 |
| 3.2 LC振荡器的结构 | 第36-39页 |
| 3.3 压控振荡器电路 | 第39-40页 |
| 3.4 石英晶体振荡器主要性能指标 | 第40-41页 |
| 3.5 振幅平衡的稳定条件 | 第41-42页 |
| 3.6 相位平衡的稳定条件 | 第42-43页 |
| 3.7 可变电容的特性分析及选取 | 第43-48页 |
| 3.7.1 PN结变容管 | 第43-44页 |
| 3.7.2 MOS可变电容 | 第44-48页 |
| 第四章 ATCXO的温度补偿电路设计及仿真 | 第48-60页 |
| 4.1 基准电压电路和温度检测电路 | 第48-52页 |
| 4.2 各阶温度补偿电压产生电路 | 第52-58页 |
| 4.2.1 一次方电压产生电路 | 第53-54页 |
| 4.2.2 三四五次方电压产生电路 | 第54-58页 |
| 4.3 加和电路 | 第58-60页 |
| 第五章 EEPROM修调电路及测试流程 | 第60-66页 |
| 5.1 EEPROM修调 | 第60-63页 |
| 5.1.1 EEPROM修调原理 | 第60-61页 |
| 5.1.2 EEPROM修调举例 | 第61-63页 |
| 5.2 流片后的测试流程 | 第63-66页 |
| 第六章 设计总结和后期工作 | 第66-68页 |
| 6.1 设计总结 | 第66-67页 |
| 6.2 后期工作 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-72页 |
| 作者简介 | 第72-73页 |
