用于半导体激光器电导数测试的嵌入式系统研制
摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第1章 绪论 | 第11-16页 |
1.1 研究背景 | 第11-12页 |
1.2 电导数的研究意义 | 第12-13页 |
1.3 国内外研究现状 | 第13-14页 |
1.4 课题来源及本论文主要研究内容 | 第14-16页 |
第2章 半导体激光器电导数理论 | 第16-28页 |
2.1 半导体激光器的V-I及光功率特性 | 第16-18页 |
2.2 半导体激光器的电导数特性 | 第18-21页 |
2.2.1 电导数的推导 | 第18-20页 |
2.2.2 电导数相关参数 | 第20-21页 |
2.3 电导数的测试方法 | 第21-24页 |
2.3.1 半导体激光器驱动电路 | 第21-22页 |
2.3.2 模拟技术测试方法 | 第22-23页 |
2.3.3 模拟数字混合技术测试方法 | 第23页 |
2.3.4 数字技术测试方法 | 第23-24页 |
2.4 阈值电流的提取 | 第24-28页 |
2.4.1 电导数法 | 第25页 |
2.4.2 小波变换法 | 第25页 |
2.4.3 P-I关系法 | 第25-27页 |
2.4.4 光谱法 | 第27页 |
2.4.5 远场法 | 第27-28页 |
第3章 基于变步长的电导数测试算法研究 | 第28-43页 |
3.1 测试系统搭建与数据获取 | 第28-31页 |
3.1.1 测试系统的搭建 | 第28-29页 |
3.1.2 测试数据的获取 | 第29-31页 |
3.2 等步长电导数测试 | 第31-35页 |
3.2.1 电导数曲线的计算和绘制 | 第31-33页 |
3.2.2 不同电流步长下电导数曲线的比较与分析 | 第33-35页 |
3.3 变步长测试算法的实现 | 第35-37页 |
3.4 小波变换奇异性检测 | 第37-43页 |
3.4.1 小波变换奇异性检测原理 | 第37-40页 |
3.4.2 小波变换奇异性检测结果与分析 | 第40-43页 |
第4章 测试系统设计 | 第43-65页 |
4.1 系统的硬件设计 | 第43-55页 |
4.1.1 硬件组成 | 第43-45页 |
4.1.2 LD驱动电路 | 第45-49页 |
4.1.3 LD端电压检测电路 | 第49-51页 |
4.1.4 LD光功率检测电路 | 第51-52页 |
4.1.5 系统板 | 第52-54页 |
4.1.6 电源板 | 第54-55页 |
4.2 系统的软件设计 | 第55-65页 |
4.2.1 设备驱动程序开发 | 第56-58页 |
4.2.2 界面设计与系统操作 | 第58-61页 |
4.2.3 LD测试程序设计 | 第61-65页 |
第5章 实验结果与分析 | 第65-72页 |
5.1 测试结果 | 第65-67页 |
5.2 测试结果分析 | 第67-72页 |
5.2.1 器件受损情况分析 | 第67-69页 |
5.2.2 测试曲线异常分析 | 第69-71页 |
5.2.3 电导数参数分析 | 第71-72页 |
结论 | 第72-73页 |
参考文献 | 第73-77页 |
附录 | 第77-80页 |
作者简介及科研成果 | 第80-81页 |
后记和致谢 | 第81页 |