| 致谢 | 第5-6页 |
| 摘要 | 第6-7页 |
| Abstract | 第7页 |
| 1 绪论 | 第12-24页 |
| 1.1 研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 相位调制传感型光纤传感器 | 第13-22页 |
| 1.2.1 光纤M-Z干涉仪和Michelson干涉仪 | 第13-16页 |
| 1.2.2 光纤Sagnac干涉仪 | 第16-17页 |
| 1.2.3 光纤Fabry-Perot干涉仪 | 第17-22页 |
| 1.2.4 光纤环形腔干涉仪 | 第22页 |
| 1.3 主要研究内容 | 第22-24页 |
| 2 S形结构的制作以及错位量对灵敏度的影响 | 第24-37页 |
| 2.1 实验系统主要仪器简介 | 第24-27页 |
| 2.1.1 熔接机 | 第24-25页 |
| 2.1.2 光谱仪 | 第25-26页 |
| 2.1.3 显微镜 | 第26-27页 |
| 2.2 制作S形结构的详细参数及过程 | 第27-29页 |
| 2.3 不同错位量的S形结构对灵敏度影响 | 第29-36页 |
| 2.3.1 不同错位量的S形结构的制作 | 第29-31页 |
| 2.3.2 球形结构制作 | 第31-33页 |
| 2.3.3 S形和球形结构级联的光纤传感器原理 | 第33页 |
| 2.3.4 传感器理论模拟 | 第33-34页 |
| 2.3.5 实验结果与讨论 | 第34-36页 |
| 2.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 3 基于双S形级联结构的模式干涉仪 | 第37-49页 |
| 3.1 引言 | 第37页 |
| 3.2 双S形级联结构的制作过程 | 第37-38页 |
| 3.3 温度实验 | 第38-41页 |
| 3.3.1 温度实验原理 | 第38-39页 |
| 3.3.2 温度实验装置 | 第39页 |
| 3.3.3 温度实验结果与讨论 | 第39-41页 |
| 3.4 折射率实验 | 第41-44页 |
| 3.4.1 折射率实验原理 | 第41-42页 |
| 3.4.2 折射率实验装置 | 第42页 |
| 3.4.3 折射率实验结果与讨论 | 第42-44页 |
| 3.5 微位移实验 | 第44-47页 |
| 3.5.1 微位移实验原理 | 第44-45页 |
| 3.5.2 微位移实验装置 | 第45页 |
| 3.5.3 微位移实验结果与讨论 | 第45-47页 |
| 3.6 本章小结 | 第47-49页 |
| 4 基于S形和腰椎放大结构的模式干涉仪 | 第49-59页 |
| 4.1 引言 | 第49页 |
| 4.2 S形和腰椎放大结构的制作过程 | 第49-51页 |
| 4.3 温度实验 | 第51-53页 |
| 4.4 微位移实验 | 第53-55页 |
| 4.5 曲率实验 | 第55-58页 |
| 4.5.1 曲率实验原理 | 第55-57页 |
| 4.5.2 曲率实验结果与讨论 | 第57-58页 |
| 4.6 本章小结 | 第58-59页 |
| 5 总结与展望 | 第59-61页 |
| 5.1 主要工作和结论 | 第59页 |
| 5.2 改进与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-65页 |
| 作者简历 | 第65页 |