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基于量子点的双发射二氧化硅纳米微球的制备及其分析应用研究

摘要第6-8页
Abstract第8-9页
第一章 前言第13-32页
    1.1 量子点概述第13-16页
        1.1.1 量子点的发光原理第13-14页
        1.1.2 量子点光学特性第14-16页
    1.2 量子点的合成方法第16-18页
        1.2.1 有机相合成第16-17页
        1.2.2 量子点的水相合成第17-18页
    1.3 量子点表面的功能化修饰第18-21页
        1.3.1 表面两亲性聚合物的包覆第19页
        1.3.2 表面配体交换第19-20页
        1.3.3 表面二氧化硅的包覆第20-21页
    1.4 量子点在分析检测中的应用第21-30页
        1.4.1 检测机理第21-23页
        1.4.2 单发射荧光探针第23-24页
        1.4.3 比率型荧光探针第24-29页
        1.4.4 分子印迹技术第29-30页
    1.5 课题研究目的与内容第30-32页
第二章 试剂、仪器及测试方法第32-36页
    2.1 实验试剂第32-34页
    2.2 实验仪器第34页
    2.3 测试方法第34-36页
        2.3.1 高分辨透射电子显微镜第34页
        2.3.2 X射线光电子能谱第34页
        2.3.3 荧光光谱分析第34-35页
        2.3.4 紫外光谱分析第35-36页
第三章 基于离子印迹的量子点比率荧光探针制备及其用于Cd~(2+)检测第36-50页
    3.1 前言第36-37页
    3.2 实验部分第37-40页
        3.2.1 MPA包裹的红色荧光CdTe量子点的合成第37-38页
        3.2.2 双稳定剂包裹的CdSe量子点的合成第38页
        3.2.3 氨基修饰的CdTe@SiO_2纳米微球的合成第38-39页
        3.2.4 CdTe@SiO_2@CdSe比率探针的合成第39页
        3.2.5 缓冲液中Cd~(2+)的检测第39页
        3.2.6 实际水体样品中Cd~(2+)的检测第39-40页
    3.3 结果与讨论第40-49页
        3.3.1 CdTe@SiO_2@CdSe比率探针的表征第40-41页
        3.3.2 CdTe@SiO_2@CdSe比率探针的的检测原理第41-43页
        3.3.3 比率探针检测的影响因素第43-45页
        3.3.4 比率探针用于turn-on检测Cd~(2+)第45-47页
        3.3.5 离子印迹比率探针的选择性第47-48页
        3.3.6 比率探针检测实际水样第48-49页
    3.4 本章小结第49-50页
第四章 用于比率传感的双发射CdTe@SiO_2@CdTe@SiO_2杂化纳米粒子的控制合成第50-69页
    4.1 前言第50-51页
    4.2 实验部分第51-55页
        4.2.1 3-巯基丙酸(MPA)修饰的CdTe量子点的合成第51-52页
        4.2.2 巯基修饰和氨基修饰的CdTe@SiO_2纳米粒子的合成第52页
        4.2.3 MPS修饰的CdTe@SiO_2@CdTe纳米粒子的合成第52-53页
        4.2.4 双发射的CdTe@SiO_2@CdTe纳米粒子的合成第53页
        4.2.5 双发射CdTe@SiO_2@CdTe@SiO_2纳米粒子的合成第53页
        4.2.6 金纳米颗粒的合成第53-54页
        4.2.7 稳定性测试第54页
        4.2.8 细胞毒性测试第54页
        4.2.9 基于能量转移的比率检测第54-55页
    4.3 结果与讨论第55-68页
        4.3.1 双发射荧光纳米粒子的合成与光谱表征第55-62页
        4.3.2 双发射荧光纳米粒子稳定性的探究第62-65页
        4.3.3 双发射荧光纳米粒子能量转移过程的研究第65-68页
    4.4 本章小结第68-69页
第五章 总结与展望第69-71页
参考文献第71-91页
作者简历第91-92页
致谢第92页

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