| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-14页 |
| ·研究背景和意义 | 第10页 |
| ·国内外研究现状 | 第10-12页 |
| ·本文的主要工作 | 第12页 |
| ·本文的组织结构 | 第12-14页 |
| 第二章 相关概念和方法 | 第14-20页 |
| ·依赖分析 | 第14-16页 |
| ·控制依赖 | 第14-16页 |
| ·数据依赖 | 第16页 |
| ·指向分析 | 第16-17页 |
| ·溢出分析 | 第17-19页 |
| ·已有的溢出分析 | 第17-18页 |
| ·改进的溢出分析 | 第18-19页 |
| ·本章小结 | 第19-20页 |
| 第三章 内存泄漏单元测试 | 第20-34页 |
| ·风险泄漏模块 | 第20-22页 |
| ·易直接造成内存泄漏的方法 | 第20-21页 |
| ·易累积新创建对象导致泄漏的方法 | 第21页 |
| ·易累积吸收方法参数导致泄漏的方法 | 第21-22页 |
| ·面向内存泄漏的单元测试生成 | 第22页 |
| ·识别易泄漏的方法 | 第22-26页 |
| ·识别易直接造成泄漏的方法 | 第23-24页 |
| ·识别易累积新创建对象导致泄漏的方法 | 第24-25页 |
| ·识别易累积吸收方法参数导致泄漏的方法 | 第25-26页 |
| ·生成单元测试 | 第26-29页 |
| ·生成易直接构成内存泄漏的方法的单元测试 | 第26-27页 |
| ·生成易累积新创建对象导致泄漏的方法的单元测试 | 第27-28页 |
| ·生成易累积吸收方法参数导致泄漏的方法的单元测试 | 第28-29页 |
| ·案例研究 | 第29-33页 |
| ·对易直接造成泄漏的方法的案例研究 | 第29-30页 |
| ·对易累积新创建对象导致泄漏的方法的案例研究 | 第30-32页 |
| ·对易累积吸收方法参数导致泄漏的方法的案例研究 | 第32-33页 |
| ·本章小结 | 第33-34页 |
| 第四章 静态检测内存泄漏 | 第34-44页 |
| ·典型泄漏模式 | 第34-36页 |
| ·泄漏模式静态检测 | 第36-41页 |
| ·构建指向图 | 第37页 |
| ·收集WeakHashMap型容器变量 | 第37-38页 |
| ·识别加入WeakHashMap的key和value变量 | 第38-40页 |
| ·泄漏模式判定 | 第40-41页 |
| ·实验分析 | 第41-43页 |
| ·实验对象 | 第41页 |
| ·实验结果分析与讨论 | 第41-43页 |
| ·本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 内存泄漏发现系统的实现 | 第44-53页 |
| ·泄漏发现系统结构 | 第44-45页 |
| ·基于的框架 | 第45-47页 |
| ·单元测试系统 | 第47-50页 |
| ·静态泄漏模式检测系统 | 第50-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第六章 总结与展望 | 第53-54页 |
| ·总结 | 第53页 |
| ·未来工作展望 | 第53-54页 |
| 参考文献 | 第54-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 攻读硕士学位期间完成的论文以及学术成果 | 第59页 |