| 中文摘要 | 第1-5页 |
| 英文摘要 | 第5-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 1 综述 | 第12-24页 |
| ·引言 | 第12页 |
| ·磁电阻效应 | 第12-18页 |
| ·正常磁电阻效应 | 第12-13页 |
| ·各向异性磁电阻效应 | 第13页 |
| ·巨磁电阻效应 | 第13-15页 |
| ·隧穿磁电阻效应 | 第15-17页 |
| ·庞磁电阻效应 | 第17页 |
| ·磁性隧道结的应用 | 第17-18页 |
| ·颗粒膜磁电阻效应 | 第18-22页 |
| ·金属/金属型磁性纳米颗粒膜体系磁电阻效应 | 第18-19页 |
| ·绝缘体颗粒膜体系磁电阻效应 | 第19-20页 |
| ·磁性金属/半导体纳米颗粒膜体系磁电阻效应 | 第20-22页 |
| ·磁性颗粒膜磁电阻效应在 GIG 传感器中的应用 | 第22页 |
| ·本论文主要研究内容 | 第22-24页 |
| ·磁性金属-半导体颗粒膜磁电阻效应的研究 | 第22-23页 |
| ·L1_0-CoPt 基线性传感器的研究 | 第23-24页 |
| 2 薄膜样品的制备及测试 | 第24-34页 |
| ·前言 | 第24页 |
| ·薄膜的制备 | 第24-27页 |
| ·基片的清洗 | 第24-25页 |
| ·磁控溅射制备样品 | 第25-26页 |
| ·热处理对薄膜结构和性能的影响 | 第26-27页 |
| ·薄膜结构与性能表征 | 第27-34页 |
| ·薄膜厚度测试 | 第27-28页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第28页 |
| ·扫描电子显微镜 | 第28-29页 |
| ·原子力显微镜 | 第29页 |
| ·薄膜磁学性能及磁电阻效应的测量 | 第29-34页 |
| 3 Co/ZnO 薄膜磁电阻效应及其与薄膜电阻率的关系 | 第34-40页 |
| ·引言 | 第34页 |
| ·实验过程 | 第34-35页 |
| ·结果和讨论 | 第35-39页 |
| ·薄膜的室温磁电阻效应与电阻率的关系 | 第35-36页 |
| ·薄膜的磁性与结构 | 第36-38页 |
| ·薄膜的磁电阻效应与电输运的关系 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-40页 |
| 4 L1_0-CoPt 基隧道结中 CoPt 参考层的制备与性能 | 第40-48页 |
| ·引言 | 第40页 |
| ·实验过程 | 第40-41页 |
| ·实验结果与讨论 | 第41-46页 |
| ·不同基片（玻璃,MgO,SiO_2）对 Ag/CoPt 薄膜结构的影响 | 第41-42页 |
| ·SiO_2/Ag(xnm)/CoPt(50nm)薄膜结构与磁性 | 第42-43页 |
| ·SiO_2/Ag(50nm)/CoPt(ynm)薄膜结构 | 第43-44页 |
| ·退火温度对 SiO_2/Ag/CoPt 薄膜磁性的影响 | 第44-45页 |
| ·保温时间对 SiO_2/Ag/CoPt 薄膜磁性的影响 | 第45-46页 |
| ·升温速率对 SiO_2/Ag/CoPt 薄膜表面形貌的影响 | 第46页 |
| ·本章小结 | 第46-48页 |
| 5 L1_0-CoPt/ZnO(MgO)/Co 多层膜的结构及磁性研究 | 第48-54页 |
| ·引言 | 第48页 |
| ·实验方法 | 第48-49页 |
| ·实验结果与讨论 | 第49-52页 |
| ·连续沉积的 CoPt/ZnO/Co 多层膜的磁性 | 第49页 |
| ·分步沉积 CoPt/ZnO/Co 薄膜结构与磁性能 | 第49-51页 |
| ·SiO_2/Ag/CoPt/MgO/Co 多层膜结构与磁性能 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 6 结论 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-64页 |
| 附录 | 第64页 |
