| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-17页 |
| ·课题背景和意义 | 第11页 |
| ·国内外研究现状 | 第11-14页 |
| ·国外研究现状 | 第11-13页 |
| ·国内研究现状 | 第13-14页 |
| ·辐照效应研究手段 | 第14-15页 |
| ·空间在轨搭载试验 | 第14页 |
| ·计算机模拟仿真 | 第14页 |
| ·地面模拟试验 | 第14-15页 |
| ·课题的主要内容 | 第15-17页 |
| 第2章 线性集成稳压器及辐射效应 | 第17-29页 |
| ·线性集成稳压器概述 | 第17-20页 |
| ·线性集成稳压器的种类 | 第17-18页 |
| ·线性集成稳压器的结构 | 第18-19页 |
| ·线性集成稳压器的工作原理 | 第19-20页 |
| ·辐射效应 | 第20-24页 |
| ·辐射环境 | 第20-22页 |
| ·辐射效应 | 第22-24页 |
| ·总剂量效应损伤机理 | 第24-27页 |
| ·氧化物陷阱电荷的形成机制 | 第24-25页 |
| ·界面陷阱电荷的形成机制 | 第25-27页 |
| ·本章小结 | 第27-29页 |
| 第3章 试验方案 | 第29-35页 |
| ·电离辐照试验方案 | 第29-32页 |
| ·试验器件 | 第29-30页 |
| ·试验辐射源 | 第30页 |
| ·试验条件及装置 | 第30-31页 |
| ·参数测试条件及装置 | 第31-32页 |
| ·退火试验方案 | 第32-34页 |
| ·退火试验方案 | 第33页 |
| ·室温和高温退火机理 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 线性集成稳压器总剂量效应和 PSPICE 模拟 | 第35-59页 |
| ·稳压器辐照退化规律及分析 | 第35-40页 |
| ·基准电压的损伤及分析 | 第35-37页 |
| ·电压调整率的损伤及分析 | 第37-38页 |
| ·电流调整率的损伤及分析 | 第38-39页 |
| ·纹波抑制比的损伤及分析 | 第39-40页 |
| ·线性集成稳压器退火规律及分析 | 第40-43页 |
| ·基准电压的退火规律 | 第41页 |
| ·电压调整率的退火规律 | 第41-42页 |
| ·电流调整率的退火规律 | 第42页 |
| ·敏感参数退火机理分析 | 第42-43页 |
| ·线性集成稳压器总剂量效应失效机理 | 第43-45页 |
| ·电离总剂量效应的 PSPICE 仿真 | 第45-56页 |
| ·PSPICE 软件介绍 | 第45-47页 |
| ·电离总剂量效应仿真原理 | 第47-48页 |
| ·基准电压损伤仿真 | 第48-50页 |
| ·电压调整率损伤仿真 | 第50-51页 |
| ·电流调整率损伤仿真 | 第51-53页 |
| ·纹波抑制比损伤仿真 | 第53-54页 |
| ·关键子电路仿真 | 第54-56页 |
| ·本章小结 | 第56-59页 |
| 第5章 线性集成稳压器辐照加固改进 | 第59-71页 |
| ·电离辐射加固措施 | 第59-61页 |
| ·双极晶体管加固措施 | 第59-60页 |
| ·双极集成电路加固措施 | 第60-61页 |
| ·线性集成稳压器加固改进 I | 第61-65页 |
| ·掺杂工艺改进 | 第61页 |
| ·试验结果及分析 | 第61-65页 |
| ·线性集成稳压器加固改进 II | 第65-69页 |
| ·钝化工艺改进 | 第65页 |
| ·试验结果及分析 | 第65-67页 |
| ·退火试验 | 第67-69页 |
| ·本章小结 | 第69-71页 |
| 结论 | 第71-73页 |
| 参考文献 | 第73-77页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79页 |