地基日冕仪杂散光抑制的关键技术研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-15页 |
| ·地基日冕仪研制背景 | 第11-12页 |
| ·日冕仪国内外发展状况 | 第12-13页 |
| ·地基日冕仪研制的必要性 | 第13-15页 |
| 第2章 地基日冕仪设计要求设定 | 第15-21页 |
| ·掩体形式确定 | 第15-18页 |
| ·杂散光抑制水平 | 第18页 |
| ·工作波段选择 | 第18-19页 |
| ·日冕仪口径选择 | 第19-20页 |
| ·CCD的选择 | 第20-21页 |
| 第3章 日冕仪光学系统设计 | 第21-25页 |
| ·日冕仪成像原理 | 第21-22页 |
| ·光学系统设计 | 第22-25页 |
| 第4章 日冕仪系统杂散光的消除 | 第25-57页 |
| ·太阳直射光的遮拦 | 第25-30页 |
| ·视场光阑的设置 | 第30-33页 |
| ·入射孔径边缘衍射光的消除 | 第33-37页 |
| ·物镜O1表面多次反射形成的鬼像的抑制 | 第37-53页 |
| ·鬼像形成机制 | 第37-38页 |
| ·鬼像软件模拟 | 第38-41页 |
| ·Lyot斑理论计算 | 第41-53页 |
| ·材料缺陷及灰尘引入的杂散光的抑制 | 第53-57页 |
| 第5章 实验分析 | 第57-87页 |
| ·实验原理及实验条件 | 第57-58页 |
| ·太阳光源模拟 | 第58-63页 |
| ·分辨率实验 | 第63-64页 |
| ·太阳直射光遮拦实验 | 第64-67页 |
| ·入射孔径A0边缘衍射光的消除实验 | 第67-68页 |
| ·三级杂散光消除实验 | 第68-76页 |
| ·灰尘引发的杂散光的影响 | 第76-79页 |
| ·杂散光消除后的成像效果 | 第79-82页 |
| ·实验中存在的问题 | 第82-87页 |
| ·CCD尺寸限制 | 第82-83页 |
| ·平行光管物镜散射点的散射光问题 | 第83-87页 |
| 第6章 地基日冕仪渐晕分析 | 第87-89页 |
| ·内掩式地基日冕仪渐晕分析及补偿 | 第87-89页 |
| 第7章 地基日冕仪实验样机整体结构 | 第89-95页 |
| 第8章 日冕仪系统光机协同设计软件 | 第95-101页 |
| ·软件界面及功能介绍 | 第95-96页 |
| ·软件流程图 | 第96-101页 |
| 第9章 结论与展望 | 第101-103页 |
| ·结论 | 第101页 |
| ·研究展望 | 第101-103页 |
| 参考文献 | 第103-105页 |
| 在学期间学术成果情况 | 第105-106页 |
| 指导教师及作者简介 | 第106-107页 |
| 致谢 | 第107-108页 |
| 附件1 Lyot斑尺寸计算软件程序 | 第108-125页 |
