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中阶梯光栅光谱仪结构优化设计与像质分析

摘要第1-7页
Abstract第7-12页
第1章 绪论第12-22页
   ·激光诱导击穿光谱(LIBS)技术概述第12-15页
     ·LIBS技术产生及发展历史第12-13页
     ·LIBS的基本原理和特点第13-15页
     ·LIBS应用前景第15页
   ·中阶梯光栅光谱仪在LIBS技术中的应用第15-19页
     ·LIBS系统对光谱仪的基本要求第15-16页
     ·中阶梯光栅光谱仪与LIBS技术结合的优势及必要性第16-18页
     ·中阶梯光栅光谱仪国内外发展现状第18-19页
   ·论文的主要内容和结构安排第19-22页
     ·论文的主要内容第19-20页
     ·论文结构安排第20-22页
第2章 中阶梯光栅光谱仪基础第22-34页
   ·中阶梯光栅简介第22-24页
   ·中阶梯光栅光谱仪的组成结构第24-25页
     ·光源和照明系统第24页
     ·分光系统第24-25页
     ·接收系统第25页
   ·中阶梯光栅光谱仪基本原理第25-27页
   ·中阶梯光栅光谱仪特性第27-34页
     ·光谱重叠第27页
     ·交叉色散结构及色散元件的选取第27-30页
     ·工作光谱范围第30-31页
     ·中心波长及自由光谱范围第31-34页
第3章 系统光路结构设计及其优化第34-62页
   ·切尼尔-特纳(Czerny-Turner)系统第34-39页
   ·利特洛(Littrow)系统第39-41页
   ·中阶梯光栅光谱仪光学设计及像差分析第41-47页
     ·系统光学设计第41-45页
     ·色散方向像差第45-46页
     ·垂直色散方向像差第46-47页
   ·结构优化设计第47-54页
     ·优化设计过程第48-53页
     ·优化方案第53-54页
   ·实际光学设计结果第54-59页
     ·点列图第56-57页
     ·像差曲线第57-58页
     ·光谱光斑直径第58-59页
   ·杂散光的来源与控制第59-62页
     ·杂散光的来源第59页
     ·系统杂散光控制第59-62页
第4章 中阶梯光栅光谱仪成像质量分析第62-78页
   ·分析影响系统分辨率因素第62-67页
     ·中阶梯光栅第62-63页
     ·交叉色散棱镜第63-64页
     ·针孔直径第64-66页
     ·探测器CCD第66-67页
   ·分辨率与各参数关系研究第67-69页
     ·确定影响系统分辨率的主要因素第67-68页
     ·光栅、针孔、探测器三者关系第68-69页
     ·系统极限针孔直径计算第69页
   ·仪器各元件的装调第69-74页
     ·软件模拟误差第69-70页
     ·系统精确装调第70-74页
   ·原理样机的性能测试第74-78页
     ·实验条件第74页
     ·实验结果及像质分析第74-78页
第5章 总结与展望第78-82页
   ·论文总结及创新成果第78-79页
   ·下一步工作展望第79-82页
参考文献第82-86页
在学期间学术成果情况第86-87页
指导教师及作者简介第87-88页
致谢第88页

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