| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 1 绪论 | 第7-11页 |
| ·微光夜视技术的发展概况 | 第7-9页 |
| ·本文研究背景 | 第9页 |
| ·本论文的主要工作 | 第9-11页 |
| 2 MCP与荧光屏组件信噪比测试的理论基础 | 第11-18页 |
| ·微光像增强器的工作原理 | 第11页 |
| ·微光像增强器MCP和荧光屏的工作机理 | 第11-13页 |
| ·MCP的工作原理 | 第12页 |
| ·荧光屏的发光原理 | 第12-13页 |
| ·微光像增强器信噪比链理论 | 第13-16页 |
| ·输入信噪比 | 第14页 |
| ·阴极噪声因子 | 第14-15页 |
| ·MCP噪声因子 | 第15页 |
| ·荧光屏噪声因子 | 第15-16页 |
| ·MCP与荧光屏组件噪声特性测试原理及方法 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-18页 |
| 3 光学系统设计 | 第18-31页 |
| ·光学系统的总体设计 | 第18-19页 |
| ·观察窗设计 | 第19页 |
| ·信号探测系统光学设计 | 第19-22页 |
| ·反射系统设计 | 第20-21页 |
| ·共轭透镜设计 | 第21页 |
| ·测试光点调节及观测 | 第21-22页 |
| ·温度对光学系统的影响分析 | 第22-30页 |
| ·光学系统材料选取 | 第22-23页 |
| ·温度变化对光学系统影响的理论及有限元分析 | 第23-30页 |
| ·加工完成部件展示 | 第30页 |
| ·结论 | 第30-31页 |
| 4 机械系统设计 | 第31-51页 |
| ·MCP与荧光屏组件噪声特性测试系统总体设计 | 第31-32页 |
| ·机械系统设计 | 第32-36页 |
| ·机械系统总体设计 | 第32-33页 |
| ·真空腔室结构设计 | 第33-34页 |
| ·遮光系统及转盘设计 | 第34-35页 |
| ·真空烘烤系统设计 | 第35页 |
| ·传动装置设计 | 第35-36页 |
| ·机械系统中关键部件的有限元分析 | 第36-50页 |
| ·转盘的静力学分析 | 第37-40页 |
| ·上盖的静力学分析 | 第40-42页 |
| ·转盘的重力和热应力场耦合分析 | 第42-47页 |
| ·真空室的模态分析 | 第47-50页 |
| ·加工完成部件展示 | 第50页 |
| ·结论 | 第50-51页 |
| 5 测试系统调试与结果分析 | 第51-61页 |
| ·真空度测试 | 第51-54页 |
| ·工作真空度测试 | 第51-52页 |
| ·极限真空度测试 | 第52-54页 |
| ·MCP与荧光屏组件噪声特性测试及结果分析 | 第54-57页 |
| ·MCP与荧光屏组件输出信噪比测试 | 第54-55页 |
| ·不同入射电流密度对MCP与荧光屏组件输出信噪比的影响 | 第55-57页 |
| ·像增强器信噪比链的测试 | 第57-60页 |
| ·像增强器输出信噪比 | 第57-58页 |
| ·像增强器的阴极输出信噪比 | 第58-59页 |
| ·像增强器的荧光屏噪声因子 | 第59-60页 |
| ·像增强器的MCP噪声因子 | 第60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 6 总结与展望 | 第61-63页 |
| ·本文工作小结 | 第61-62页 |
| ·本文创新点 | 第62页 |
| ·有待进一步研究的问题 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-67页 |