航天用高精度霍尔电流传感器开发技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·研究背景与意义 | 第7-8页 |
| ·研究背景 | 第7页 |
| ·研究意义 | 第7-8页 |
| ·国内外研究状况 | 第8-10页 |
| ·霍尔传感器的发展与现状 | 第8页 |
| ·国内外研究状况 | 第8-10页 |
| ·论文主要工作及各章内容安排 | 第10-11页 |
| 第二章 霍尔电流传感器的性能分析及航天应用改进 | 第11-31页 |
| ·霍尔效应传感器原理 | 第11-14页 |
| ·直测式霍尔传感器工作原理 | 第12-13页 |
| ·磁补偿式霍尔传感器工作原理 | 第13-14页 |
| ·霍尔电流传感器的数学模型及参数分析 | 第14-17页 |
| ·磁补偿式霍尔传感器的数学模型 | 第14-15页 |
| ·磁补偿式霍尔传感器的参数分析 | 第15-17页 |
| ·霍尔电流传感器线性度、带宽等性能改进及验证 | 第17-21页 |
| ·霍尔电流传感器性能改进指标的计算 | 第17-18页 |
| ·霍尔电流传感器性能改进指标的验证 | 第18-21页 |
| ·影响霍尔电流传感器高精度的参数分析 | 第21-24页 |
| ·改善霍尔电流传感器精度指标 | 第24-30页 |
| ·霍尔电流传感器精度指标的改进分析 | 第24-27页 |
| ·霍尔电流传感器改进后的性能验证 | 第27-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 航天用霍尔电流传感器抗辐射性能研究 | 第31-47页 |
| ·近地空间环境要素概述 | 第31-33页 |
| ·传感器需主要防护的空间辐射效应 | 第33-34页 |
| ·总剂量效应（TID） | 第33-34页 |
| ·位移损伤效应 | 第34页 |
| ·霍尔电流传感器空间辐射效应防护设计及分析 | 第34-35页 |
| ·霍尔电流传感器在空间辐射效应下的参数漂移分析 | 第35-38页 |
| ·抗辐射效应的验证手段及结果分析 | 第38-46页 |
| ·霍尔电流传感器总剂量效应辐照试验方案的确定 | 第38-40页 |
| ·试验结果验证及分析 | 第40-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 航天用霍尔电流传感器长寿命试验 | 第47-59页 |
| ·加速寿命试验方案解析 | 第47-52页 |
| ·加速寿命试验概述 | 第47-49页 |
| ·加速寿命试验模型 | 第49-52页 |
| ·寿命试验流程 | 第52页 |
| ·试验验证参数的选择与计算 | 第52-54页 |
| ·试验温度及时间参数的确定 | 第52-54页 |
| ·试验样本数量的选择 | 第54页 |
| ·寿命试验验证结果及分析 | 第54-57页 |
| ·寿命试验验证结果 | 第54-56页 |
| ·寿命试验验证结果数据分析 | 第56-57页 |
| ·本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 结束语 | 第59-61页 |
| ·论文工作总结 | 第59页 |
| ·进一步研究展望 | 第59-61页 |
| 致谢 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
