| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-14页 |
| ·研究背景 | 第9-11页 |
| ·集成电路技术的发展及其与控制技术的联系 | 第9页 |
| ·可控硅触发控制系统的研究意义与研究现状 | 第9-11页 |
| ·可控硅触发控制系统 SOC 的基本构架及本论文主要研究内容 | 第11-13页 |
| ·可控硅触发控制系统 SOC 的基本构架 | 第11-12页 |
| ·主要研究内容 | 第12-13页 |
| ·论文结构 | 第13-14页 |
| 第二章 可控硅移相触发控制系统的输入噪声及其消除 | 第14-23页 |
| ·噪声的来源及其影响 | 第14-16页 |
| ·去抖动问题的解决方案 | 第16-19页 |
| ·迟滞比较器的设计方案 | 第16-17页 |
| ·模拟去抖动电路方案 | 第17-19页 |
| ·数字去抖动电路方案 | 第19-21页 |
| ·数字去抖动方案仿真验证与电路实现 | 第21-23页 |
| ·方案验证 | 第21-22页 |
| ·电路实现 | 第22-23页 |
| 第三章 触发误差分析与频漂自适应电路 | 第23-32页 |
| ·可控硅触发控制芯片中触发误差的分析 | 第23-24页 |
| ·通过预采样和时针频率补偿来实现频漂自适应的基本原理 | 第24-25页 |
| ·频漂自适应模块的实现方案 | 第25-28页 |
| ·频率检测单元 | 第26页 |
| ·补偿控制逻辑单元 | 第26-27页 |
| ·补偿电路单元 | 第27-28页 |
| ·频漂自适应方案的仿真验证与电路实现 | 第28-30页 |
| ·设计结果的误差分析 | 第30-32页 |
| 第四章 可控硅触发控制 SOC 的电路实现与仿真 | 第32-54页 |
| ·数字电路部分 | 第32-37页 |
| ·移相电路 | 第32-34页 |
| ·输出脉冲形成电路 | 第34-36页 |
| ·保护电路 | 第36-37页 |
| ·模拟电路部分 | 第37-44页 |
| ·比较器 | 第38-41页 |
| ·电压基准源 | 第41-44页 |
| ·片上 ADC 的设计 | 第44-54页 |
| ·片上 ADC 的类型选择 | 第44-46页 |
| ·DAC | 第46-51页 |
| ·比较器 | 第51-52页 |
| ·SAR-ADC 的仿真 | 第52-54页 |
| 第五章 可控硅触发控制系统 SOC 的版图与芯片测试 | 第54-62页 |
| ·可控硅触发控制系统 SOC 的版图 | 第54-56页 |
| ·版图设计的一般流程 | 第54-55页 |
| ·可控硅触发控制系统 SOC 的版图 | 第55-56页 |
| ·芯片测试 | 第56-62页 |
| ·基本功能测试(单宽模式) | 第56-57页 |
| ·双窄输出测试 | 第57-58页 |
| ·保护电路测试 | 第58-59页 |
| ·噪声适应能力测试 | 第59-60页 |
| ·频漂适应能力测试 | 第60-62页 |
| 第六章 应用系统范例 | 第62-68页 |
| ·典型应用电路 | 第62页 |
| ·三相交流闭环恒流控制系统 | 第62-67页 |
| ·系统方框图 | 第63页 |
| ·开环控制端外部电路 | 第63-64页 |
| ·芯片外部输入与输出电路 | 第64-65页 |
| ·反馈回路 | 第65-66页 |
| ·过流保护电路 | 第66页 |
| ·可控硅模块电路 | 第66-67页 |
| ·小结 | 第67-68页 |
| 第七章 总结与展望 | 第68-69页 |
| ·总结 | 第68页 |
| ·展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 附录 | 第74-84页 |
| 附录 A 数字去抖动模块 Verilog 代码 | 第74-76页 |
| 附录 B 频漂自适应模块 Verilog 代码及测试程序 | 第76-84页 |
| 作者简介 | 第84页 |
