基于LASAR的数字电路可测试性设计方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 引言 | 第8-11页 |
| ·可测试性设计简介 | 第8-9页 |
| ·故障诊断技术的发展 | 第9-10页 |
| ·论文完成的工作 | 第10-11页 |
| 2 可测试性的测度 | 第11-19页 |
| ·SCOAP可控性和可观测性 | 第11-13页 |
| ·门级电路 | 第11-12页 |
| ·功能级电路 | 第12-13页 |
| ·标准单元的可测试性分析 | 第13-17页 |
| ·可控性和可观测性的计算 | 第17-19页 |
| 3 几种常见的可测试性设计方法 | 第19-33页 |
| ·简单的可测试性设计 | 第19-20页 |
| ·可测试性的改善设计 | 第20-23页 |
| ·可测试性的结构设计 | 第23-28页 |
| ·电平灵敏扫描设计法 | 第24-27页 |
| ·扫描通路法 | 第27-28页 |
| ·边界扫描测试 | 第28-33页 |
| ·边界扫描技术的发展 | 第28-29页 |
| ·边界扫描原理 | 第29-30页 |
| ·边界扫描测试的结构 | 第30-33页 |
| 4 基于LASAR的可测试性设计 | 第33-49页 |
| ·LASAR简介 | 第33-35页 |
| ·电路建模 | 第35-41页 |
| ·电路描述 | 第35-38页 |
| ·网表文件 | 第36-37页 |
| ·辅助文件 | 第37-38页 |
| ·器件模型库 | 第38-41页 |
| ·器件模型库的结构 | 第38-40页 |
| ·器件模型库管理工具LIBRARIAN | 第40页 |
| ·器件模型库的搜索顺序 | 第40-41页 |
| ·电路仿真 | 第41-48页 |
| ·激励文件 | 第41-44页 |
| ·激励文件的结构 | 第41-43页 |
| ·激励描述语言 | 第43-44页 |
| ·好板仿真 | 第44-45页 |
| ·结点响应 | 第44-45页 |
| ·冒险分析 | 第45页 |
| ·故障仿真 | 第45-48页 |
| ·故障仿真原理 | 第45-46页 |
| ·故障列表文件 | 第46-47页 |
| ·仿真结果分析 | 第47-48页 |
| ·后处理 | 第48-49页 |
| 5 LASAR仿真在实际电路中的应用 | 第49-59页 |
| ·电路模型编译 | 第49-50页 |
| ·测试激励编译 | 第50-53页 |
| ·High-speed时序集 | 第50-51页 |
| ·输入激励描述 | 第51-53页 |
| ·好板分析 | 第53-54页 |
| ·故障探测 | 第54-58页 |
| ·故障类型 | 第54-55页 |
| ·故障注入 | 第55-56页 |
| ·故障仿真结果 | 第56-58页 |
| ·故障覆盖率 | 第56-57页 |
| ·故障字典 | 第57-58页 |
| ·小结 | 第58-59页 |
| 6 结束语 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-61页 |
| 在读期间科研成果简介 | 第61-62页 |
| 声明 | 第62-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录 LASAR故障仿真示例电路 | 第64页 |
