深亚微米SRAM存储单元稳定性研究
| 中文摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| ·静态随机存储器(SRAM)及其稳定性概述 | 第10-13页 |
| ·研究背景及意义 | 第13-14页 |
| ·论文主要工作 | 第14-15页 |
| ·章节安排 | 第15-16页 |
| 第二章 静态随机存储器稳定性分析基础 | 第16-29页 |
| ·静态噪声容限(SNM) | 第16-22页 |
| ·SNM 的推导分析 | 第18-20页 |
| ·SNM 仿真方法 | 第20-22页 |
| ·N 型曲线法分析SRAM 单元稳定性 | 第22-27页 |
| ·SRAM 存储单元读能力分析 | 第23-25页 |
| ·SRAM 存储单元写能力分析 | 第25-26页 |
| ·N 型曲线法相关单元参量 | 第26-27页 |
| ·阿尔法粒子注入下SRAM 的可靠性分析 | 第27-28页 |
| ·小结 | 第28-29页 |
| 第三章 阿尔法粒子注入下SRAM 可靠性模型 | 第29-35页 |
| ·关键电荷(CRITICAL CHARGE)分析 | 第29-30页 |
| ·可靠性模型 | 第30-33页 |
| ·反相器模型 | 第31页 |
| ·存储单元模型 | 第31-32页 |
| ·电流源模型 | 第32-33页 |
| ·小结 | 第33-35页 |
| 第四章 仿真结果及分析 | 第35-47页 |
| ·N 型曲线法判断SRAM 单元稳定性 | 第35-41页 |
| ·阿尔法粒子注入下SRAM 单元稳定性 | 第41-44页 |
| ·N 型曲线法分析α粒子注入时的单元稳定性 | 第44-45页 |
| ·小结 | 第45-47页 |
| 第五章 总结与展望 | 第47-49页 |
| ·总结 | 第47-48页 |
| ·展望 | 第48-49页 |
| 参考文献 | 第49-53页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第53-54页 |
| 致谢 | 第54-55页 |