| 1 绪论 | 第1-28页 |
| ·课题来源及选题依据 | 第23页 |
| ·CCD相机检校的必要性及意义 | 第23-24页 |
| ·国内外研究现状 | 第24-26页 |
| ·课题研究内容及检校系统流程 | 第26-28页 |
| 2 CCD相机原理、结构 | 第28-32页 |
| ·CCD相机简介 | 第28-29页 |
| ·CCD相机组成结构和工作原理 | 第29-30页 |
| ·CCD相机的特点及其主要性能指标 | 第30-32页 |
| 3 CCD相机检校内容、方法及精度 | 第32-38页 |
| ·CCD相机检校内容 | 第32-35页 |
| ·内方位元素 | 第32-33页 |
| ·外方位元素 | 第33-34页 |
| ·光学畸变 | 第34-35页 |
| ·CCD相机检校方法 | 第35-36页 |
| ·CCD相机检校参数精度要求 | 第36-38页 |
| ·内方位元素检校精度要求 | 第36-37页 |
| ·光学畸变差检校精度要求 | 第37-38页 |
| 4 基于多片空间后方交会的检校原理 | 第38-43页 |
| ·多片空间后交检校原理 | 第38-40页 |
| ·多片空间后交检校精度评定 | 第40-41页 |
| ·多片空间后交检校的误差源 | 第40页 |
| ·参数中误差评定 | 第40-41页 |
| ·参数相关性评定 | 第41页 |
| ·多片空间后交坐标系统 | 第41-43页 |
| ·物方空间坐标系 | 第41-42页 |
| ·像平面坐标系 | 第42-43页 |
| 5 多片空间后交检校方法实现 | 第43-53页 |
| ·实验场的建立 | 第43-46页 |
| ·室内实验场 | 第43-45页 |
| ·室外实验场 | 第45-46页 |
| ·控制点及标志点坐标测定 | 第46页 |
| ·室内实验场 | 第46页 |
| ·室外实验场 | 第46页 |
| ·标志点像平面坐标获取 | 第46-48页 |
| ·标志点相片拍摄 | 第46-47页 |
| ·标志点像平面坐标获取 | 第47-48页 |
| ·检校可靠性试验 | 第48-51页 |
| ·程序编制 | 第51-53页 |
| 6 试验数据分析 | 第53-97页 |
| ·标志点分布及数量影响分析 | 第53-57页 |
| ·标志点分布试验 | 第53-56页 |
| ·标志点数量试验 | 第56-57页 |
| ·多片空间后交与单片空间后交比较分析 | 第57-63页 |
| ·试验成果分析 | 第57-59页 |
| ·试验误差分析 | 第59-60页 |
| ·相关性分析 | 第60-63页 |
| ·Nikon D1X相机检校数据分析 | 第63-75页 |
| ·检校成果分析 | 第64-65页 |
| ·畸变差分析 | 第65-68页 |
| ·检校误差分析 | 第68-70页 |
| ·检校可靠性分析 | 第70-75页 |
| ·Hasselblad 555ELD相机检校数据分析 | 第75-97页 |
| ·检校成果分析 | 第76-85页 |
| ·单站试验成果分析 | 第76-77页 |
| ·双站试验成果分析 | 第77-79页 |
| ·三站实验成果分析 | 第79-81页 |
| ·四站试验成果分析 | 第81-84页 |
| ·畸变差分析 | 第84-85页 |
| ·检校精度分析 | 第85-92页 |
| ·单站试验精度分析 | 第86-87页 |
| ·双站试验精度分析 | 第87-88页 |
| ·三站实验精度分析 | 第88-90页 |
| ·四站试验精度分析 | 第90-92页 |
| ·检校可靠性分析 | 第92-97页 |
| 7 结论与展望 | 第97-99页 |
| 致谢 | 第99-100页 |
| 参考文献 | 第100-101页 |
| 附录1: Nikon D1X相机规格介绍 | 第101-102页 |
| 附录2: Hasselblad 555 ELD相机机身及后背规格介绍 | 第102-103页 |
| 附录3: 相机检校成果表 | 第103-104页 |