超大功率LD和高亮度LED性能测试系统
| 摘要（中文） | 第1-4页 |
| 摘要（英文） | 第4-7页 |
| 引言 | 第7页 |
| 第一章 半导体激光器及发光器的工作原理 | 第7-10页 |
| 第一节 注入机构 | 第7-8页 |
| 第二节 激光的产生 | 第8-10页 |
| 第二章 测试系统的总体结构 | 第10-11页 |
| 第三章 测试驱动信号发生电器 | 第11-27页 |
| 第一节 1KHz时钟发生电路 | 第11-13页 |
| 第二节 阶梯波发生器 | 第13-18页 |
| 第三节 可调节脉宽的脉冲发生器 | 第18-22页 |
| 第四节 电压放大器 | 第22-24页 |
| 第五节 乘法器 | 第24-25页 |
| 第六节 前置放大与电压跟随 | 第25-26页 |
| 第七节 功率放大器 | 第26-27页 |
| 第四章 光信号检测、处理及P---I特性显示 | 第27-36页 |
| 第一节 单片机综述 | 第27-28页 |
| 第二节 MCS-51单片机的硬件结构 | 第28-30页 |
| 第三节 A/D转换 | 第30-33页 |
| 第四节 串行传输 | 第33-36页 |
| 第五章 单片机开发仿真系统的测试实践 | 第36-43页 |
| 第一节 系统综述 | 第36页 |
| 第二节 开发的辅助器材 | 第36-37页 |
| 第三节 系统开发原则 | 第37页 |
| 第四节 本部分的硬件电路的设计 | 第37-38页 |
| 第五节 系统硬件部分的开发 | 第38-41页 |
| 第六节 硬件整体设计 | 第41-43页 |
| 第六章 结论 | 第43-44页 |
| 致谢 | 第44-45页 |
| 主要参考文献： | 第45-46页 |
| 附录： AD转换程序 | 第46-48页 |
| AD转换原理图 | 第48-49页 |
| 测试驱动信号发生电路原理图 | 第49页 |
