首页--工业技术论文--自动化技术、计算机技术论文--自动化技术及设备论文--自动化元件、部件论文--发送器(变换器)、传感器论文--物理传感器论文

CMOS线性型、开关型温度传感器的设计与研制

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
目录第8-10页
1 绪论-半导体集成温度传感器及处理电路的发展情况及现状总结第10-21页
   ·温度传感器的发展及分类第10-16页
     ·传统的分立式温度传感器第10-11页
     ·半导体集成温度传感器第11-13页
     ·智能温度传感器第13-16页
   ·温度传感器的国内外发展现状第16-18页
     ·国内发展现状第16-17页
     ·国外发展现状第17-18页
   ·温度传感器的发展趋势第18-20页
   ·本章小结第20-21页
2 CMOS集成温度传感电路的设计及仿真第21-51页
   ·开关型温度传感电路的设计第21-43页
     ·PTAT电路设计第22-30页
     ·带隙基准电压源的设计第30-37页
     ·缓冲隔离电路的设计第37-39页
     ·比较器的设计第39-41页
     ·开关型温度传感器的整体功能仿真第41-43页
   ·线性型温度传感器的设计第43-50页
     ·线性型温度传感器的设计原理第43-45页
     ·线性型温度传感器的电路结构第45-46页
     ·运算放大器的设计第46-48页
     ·线性型温度传感电路总体功能仿真第48-50页
   ·本章小结第50-51页
3 版图设计第51-62页
   ·工艺介绍第51页
   ·开关型温度传感器版图设计第51-57页
     ·PTAT电路版图设计第51-53页
     ·带隙基准电压源的版图设计第53-55页
     ·比较器版图设计第55-57页
     ·开关型温度传感器整体版图设计第57页
   ·线性型温度传感器版图设计第57-59页
     ·运算放大器版图设计第57-58页
     ·线性型温度传感器整体版图设计第58-59页
   ·版图绘制中抑制串扰和降低噪声的考虑第59-60页
   ·芯片整体版图布局设计第60-61页
   ·本章小结第61-62页
4 芯片测试结果与分析第62-81页
   ·电路测试方案第62-66页
     ·芯片封装管脚介绍第62-65页
     ·可测性分析第65页
     ·测试仪器及元器件第65-66页
   ·开关型温度传感器的测试第66-76页
     ·带隙基准源电路的测试第66-69页
     ·PTAT电路的测试第69-71页
     ·缓冲隔离电路测试第71-72页
     ·比较器电路测试(整体电路测试)第72-74页
     ·开并型温度传感器电路应用测试第74-76页
   ·线性型温度传感器的测试第76-78页
   ·本章小结第78-81页
5 总结与展望第81-89页
   ·电路设计总结第81-82页
   ·电路改进方案第82-87页
     ·比较器电路的改进第82-84页
     ·PTAT电路的改进第84-85页
     ·带隙基准源温漂的改进第85-86页
     ·运算放大器降低失调电压的改进第86-87页
   ·今后工作展望第87-88页
   ·本章小结第88-89页
参考文献第89-93页
科研成果第93-94页
致谢第94页

论文共94页,点击 下载论文
上一篇:工业自动化设备管理系统的研究与设计
下一篇:现场总线设备管理系统研究与设计