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基于ARM的便携式近红外光谱仪测控电路设计

内容提要第1-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·课题来源及研究的意义第7-8页
   ·国内外研究现状第8-9页
   ·课题要求与研究内容第9-11页
     ·测控系统要求第9-10页
     ·研究内容第10-11页
第二章 近红外光谱仪工作原理及方案设计第11-17页
   ·近红外光谱分析技术第11-13页
   ·近红外光谱仪工作原理第13-14页
   ·方案设计第14-17页
第三章 基于 ARM 的测控电路设计第17-32页
   ·S3C2410 功能特点第17-18页
   ·单元电路设计第18-32页
     ·A/D 接口电路第18-20页
     ·步进电机驱动电路第20-21页
     ·LCD 和触摸屏接口电路第21-23页
     ·USB 接口电路第23-24页
     ·PS2 接口电路第24-25页
     ·NAND Flash 接口电路第25-26页
     ·串口电路第26-27页
     ·电源电路第27-29页
     ·复位电路第29-30页
     ·JTAG 接口电路第30-32页
第四章 基于 ARM 的硬件调试技术第32-51页
   ·集成开发环境第32-35页
   ·寄存器设置第35-44页
     ·Memory 寄存器设置第35-37页
     ·NAND Flash 寄存器设置第37-39页
     ·UART 寄存器设置第39-41页
     ·中断寄存器设置第41-42页
     ·IIC 寄存器设置第42-43页
     ·SPI 寄存器设置第43-44页
   ·命令脚本文件第44-46页
   ·链接脚本文件第46-47页
   ·ARM 启动过程第47-49页
   ·ARM 重映射和MMU第49-51页
     ·ARM 重映射第49页
     ·内存管理单元MMU第49-51页
第五章 系统测试第51-63页
   ·电源和晶振电路调试第51-52页
   ·JTAG 和SDRAM 调试第52-53页
   ·串口调试第53-54页
   ·AD7715 测试第54-58页
     ·测试环境和条件第54页
     ·测试方法和步骤第54-56页
     ·测试结果和分析第56-58页
   ·NAND Flash 测试第58-60页
     ·测试方法第58页
     ·测试驱动程序第58-59页
     ·测试结果第59-60页
   ·IIC 接口测试第60-62页
   ·其它模块调试第62-63页
第六章 全文总结第63-64页
参考文献第64-66页
摘要第66-68页
Abstract第68-71页
致谢第71页

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