基于ARM的便携式近红外光谱仪测控电路设计
内容提要 | 第1-7页 |
第一章 绪论 | 第7-11页 |
·课题来源及研究的意义 | 第7-8页 |
·国内外研究现状 | 第8-9页 |
·课题要求与研究内容 | 第9-11页 |
·测控系统要求 | 第9-10页 |
·研究内容 | 第10-11页 |
第二章 近红外光谱仪工作原理及方案设计 | 第11-17页 |
·近红外光谱分析技术 | 第11-13页 |
·近红外光谱仪工作原理 | 第13-14页 |
·方案设计 | 第14-17页 |
第三章 基于 ARM 的测控电路设计 | 第17-32页 |
·S3C2410 功能特点 | 第17-18页 |
·单元电路设计 | 第18-32页 |
·A/D 接口电路 | 第18-20页 |
·步进电机驱动电路 | 第20-21页 |
·LCD 和触摸屏接口电路 | 第21-23页 |
·USB 接口电路 | 第23-24页 |
·PS2 接口电路 | 第24-25页 |
·NAND Flash 接口电路 | 第25-26页 |
·串口电路 | 第26-27页 |
·电源电路 | 第27-29页 |
·复位电路 | 第29-30页 |
·JTAG 接口电路 | 第30-32页 |
第四章 基于 ARM 的硬件调试技术 | 第32-51页 |
·集成开发环境 | 第32-35页 |
·寄存器设置 | 第35-44页 |
·Memory 寄存器设置 | 第35-37页 |
·NAND Flash 寄存器设置 | 第37-39页 |
·UART 寄存器设置 | 第39-41页 |
·中断寄存器设置 | 第41-42页 |
·IIC 寄存器设置 | 第42-43页 |
·SPI 寄存器设置 | 第43-44页 |
·命令脚本文件 | 第44-46页 |
·链接脚本文件 | 第46-47页 |
·ARM 启动过程 | 第47-49页 |
·ARM 重映射和MMU | 第49-51页 |
·ARM 重映射 | 第49页 |
·内存管理单元MMU | 第49-51页 |
第五章 系统测试 | 第51-63页 |
·电源和晶振电路调试 | 第51-52页 |
·JTAG 和SDRAM 调试 | 第52-53页 |
·串口调试 | 第53-54页 |
·AD7715 测试 | 第54-58页 |
·测试环境和条件 | 第54页 |
·测试方法和步骤 | 第54-56页 |
·测试结果和分析 | 第56-58页 |
·NAND Flash 测试 | 第58-60页 |
·测试方法 | 第58页 |
·测试驱动程序 | 第58-59页 |
·测试结果 | 第59-60页 |
·IIC 接口测试 | 第60-62页 |
·其它模块调试 | 第62-63页 |
第六章 全文总结 | 第63-64页 |
参考文献 | 第64-66页 |
摘要 | 第66-68页 |
Abstract | 第68-71页 |
致谢 | 第71页 |