提高星载成像传感器空间分辨率的方法研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·引言 | 第7-9页 |
| ·国内外研究现状及发展趋势 | 第9-12页 |
| ·国外研究现状 | 第9-11页 |
| ·国内研究现状 | 第11-12页 |
| ·本文的研究内容 | 第12-13页 |
| 第二章 光学稀疏孔径成像系统 | 第13-31页 |
| ·稀疏孔径光学系统的原理 | 第13-16页 |
| ·稀疏孔径光学系统的概念 | 第13-14页 |
| ·稀疏孔径结构的特征指标 | 第14-16页 |
| ·稀疏孔径光学系统的调制传递函数 | 第16-18页 |
| ·调制传递函数的概念 | 第16-17页 |
| ·稀疏孔径光学系统的调制传递函数 | 第17-18页 |
| ·两种典型的稀疏孔径结构 | 第18-24页 |
| ·几种常见稀疏孔径结构 | 第18-19页 |
| ·三臂结构 | 第19-21页 |
| ·Golay6 结构 | 第21-24页 |
| ·两种结构的成像模拟与图像复原 | 第24-27页 |
| ·成像模拟 | 第24-25页 |
| ·图像复原 | 第25-27页 |
| ·像质评价 | 第27-31页 |
| ·像质评价指标 | 第27-28页 |
| ·模拟结果像质评价 | 第28-31页 |
| 第三章 经典非常规采样技术 | 第31-45页 |
| ·CCD相机和常规采样 | 第31-32页 |
| ·超模式和高模式成像技术分析 | 第32-38页 |
| ·超模式和高模式采样的基本原理 | 第32-33页 |
| ·满足采样定理的前提条件 | 第33-34页 |
| ·采样位置误差对系统调制传递函数的影响 | 第34-36页 |
| ·实现超模式和高模式采样的技术途径 | 第36-37页 |
| ·超模式和高模式的图像评价方法 | 第37-38页 |
| ·超模式采样 | 第38-41页 |
| ·超模式采样的概念 | 第38-39页 |
| ·超模式数据处理 | 第39-40页 |
| ·超模式采样的计算机仿真 | 第40-41页 |
| ·高模式采样 | 第41-43页 |
| ·超模式与高模式的比较 | 第43-45页 |
| 第四章 水平减速采样和45 度斜模式采样 | 第45-53页 |
| ·水平减速采样法 | 第45-47页 |
| ·基本思想 | 第45-46页 |
| ·水平减速采样法的仿真方法研究 | 第46-47页 |
| ·45 度斜模式采样法 | 第47-53页 |
| ·基本原理 | 第47-48页 |
| ·单线阵45 度斜模式的计算机仿真 | 第48-53页 |
| 第五章 结论 | 第53-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-59页 |
| 在读期间的研究成果 | 第59-60页 |
