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动态干涉测试技术与应用研究

摘要第1-6页
Abstract第6-8页
目录第8-11页
图表目录第11-14页
1. 绪论第14-26页
   ·课题背景第14-15页
   ·动态干涉技术的发展现状第15-24页
     ·基于高速采集的单幅干涉图法第16页
     ·共光路型式的干涉仪第16-17页
     ·随机移相干涉术第17-18页
     ·自适应抗振干涉术第18-19页
     ·同步移相干涉术第19-24页
   ·课题来源第24-25页
   ·本论文主要工作和内容安排第25-26页
2. 动态干涉测量原理第26-48页
   ·偏振干涉的基本原理第26-29页
     ·偏振的琼斯矩阵表示第26-27页
     ·正交偏振光的干涉及移相第27-29页
   ·短相干光源Fizeau型动态干涉仪第29-36页
     ·系统光路及原理分析第29-31页
     ·空间分光系统第31-33页
     ·偏振移相系统第33-34页
     ·干涉图的高速采集第34页
     ·干涉图的处理第34-36页
       ·干涉图空间位置匹配第34-35页
       ·波面处理第35-36页
   ·讨论第36-47页
     ·干涉图对比度第36-37页
     ·干涉腔中多次反射第37-43页
     ·材料应力引入的误差第43-47页
   ·本章小结第47-48页
3. 用于动态干涉仪的短相干光源第48-64页
   ·部分相干理论第48-52页
     ·光源的非单色性第48-49页
     ·互相干函数第49-51页
     ·傅里叶变换光谱技术第51-52页
   ·LED作为短相干光源的Fizeau干涉实验第52-56页
     ·利用乌氏干涉仪测量LED光谱分布第53-54页
     ·LED作为干涉仪光源的实验第54-56页
   ·电流调制半导体激光器第56-63页
     ·半导体激光器纵模与相干性第56-58页
     ·半导体激光器电流调制实验第58-61页
     ·注入电流变化引起的半导体激光器波长漂移第61-62页
     ·温度变化对半导体激光器相干性的影响第62-63页
   ·本章小结第63-64页
4. 动态干涉测量实验与误差分析第64-84页
   ·实验第64-74页
     ·实验系统第64-65页
     ·动态干涉系统的移相器标定第65-70页
     ·动态干涉系统的抗振性能测试第70-72页
       ·振动对干涉条纹对比度的影响第70-72页
       ·振动环境中测量重复性实验第72页
     ·动态波面测试第72-74页
   ·误差分析第74-83页
     ·干涉系统的误差分析第74-80页
       ·1/4波片QWP3的相位延迟量误差第76-77页
       ·1/4波片QWP3的方位角误差第77-78页
       ·偏振片方位角误差第78-79页
       ·分光系统误差第79-80页
       ·1/4波片QWP1和QWP2的位相延迟误差及方位角误差第80页
     ·空间不一致产生的误差第80-82页
     ·误差分析小结第82-83页
   ·本章小结第83-84页
5. 平行平板绝对面形分布的动态干涉测量技术研究第84-105页
   ·平面绝对检验的三面互检法第84-88页
   ·平面绝对检验的两平晶法原理第88-92页
     ·Zernike多项式介绍第88-90页
     ·两平晶法测量原理第90-92页
   ·实验第92-99页
     ·平晶Ⅱ折射率均匀性引入的波差测量第92-94页
     ·两平晶法绝对检验实验第94-96页
     ·比对实验第96-98页
     ·φ600mm干涉仪参考面的绝对检验第98-99页
     ·两平晶法的其它应用第99页
   ·平行平板折射率均匀性和面形的绝对检验第99-104页
   ·本章小结第104-105页
6. 全文总结第105-107页
   ·本文所做工作第105-106页
   ·本文的创新点第106页
   ·有待解决的问题第106-107页
致谢第107-108页
参考文献第108-114页
附录第114-115页

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