| 摘要 | 第4-6页 |
| abstract | 第6-8页 |
| 第1章 引言 | 第11-24页 |
| 1.1 选题依据及研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-22页 |
| 1.3 主要研究内容及创新点 | 第22-24页 |
| 1.3.1 主要研究内容 | 第22-23页 |
| 1.3.2 研究特色与创新 | 第23-24页 |
| 第2章 大气颗粒物WDXRF分析的理论基础 | 第24-31页 |
| 2.1 X射线光谱 | 第24-25页 |
| 2.2 基于WDXRF法的大气颗粒物元素定性分析 | 第25-27页 |
| 2.3 基于WDXRF法的大气颗粒物元素定量分析 | 第27-31页 |
| 第3章 大气颗粒物WDXRF测定关键技术研究 | 第31-74页 |
| 3.1 薄样品临界质量厚度研究 | 第31-41页 |
| 3.1.1 理论分析 | 第31-33页 |
| 3.1.2 MC模拟 | 第33-35页 |
| 3.1.3 临界质量厚度判定依据 | 第35-41页 |
| 3.2 比对薄样品制备技术 | 第41-51页 |
| 3.2.1 衬底选择与预处理方法讨论 | 第41-45页 |
| 3.2.2 比对薄样品制备方法讨论 | 第45-48页 |
| 3.2.3 滴液量的讨论 | 第48-49页 |
| 3.2.4 比对薄样品制备流程 | 第49-51页 |
| 3.3 大气颗粒物样品采集与制备技术 | 第51-59页 |
| 3.3.1 样杯结构设计 | 第51-56页 |
| 3.3.2 样品封装制备 | 第56-59页 |
| 3.4 波谱解析技术 | 第59-74页 |
| 3.4.1 背景校正 | 第59-66页 |
| 3.4.2 谱线重叠干扰校正 | 第66-74页 |
| 第4章 研究区域大气颗粒物WDXRF分析结果与评价 | 第74-109页 |
| 4.1 样品采集与处理 | 第74-77页 |
| 4.1.1 研究区域及采样点概况 | 第74-75页 |
| 4.1.2 采样方法和采样仪器 | 第75-77页 |
| 4.1.3 样品处理 | 第77页 |
| 4.2 X射线荧光光谱仪与刻度 | 第77-99页 |
| 4.2.1 Axios型荧光仪 | 第77-78页 |
| 4.2.2 测量条件选择方案 | 第78-88页 |
| 4.2.3 工作曲线建立 | 第88-94页 |
| 4.2.4 测量方法与步骤 | 第94-99页 |
| 4.3 分析结果与质量评估 | 第99-109页 |
| 4.3.1 WDXRF分析结果 | 第99-100页 |
| 4.3.2 RMS值和K值 | 第100-102页 |
| 4.3.3 准确度 | 第102-106页 |
| 4.3.4 精确度 | 第106-107页 |
| 4.3.5 检出限 | 第107-109页 |
| 第5章 研究区域大气颗粒物组分特征及来源解析 | 第109-127页 |
| 5.1 组分特征 | 第109-123页 |
| 5.2 来源解析 | 第123-127页 |
| 结论 | 第127-129页 |
| 致谢 | 第129-130页 |
| 参考文献 | 第130-137页 |
| 攻读博士学位期间取得学术成果 | 第137页 |